一维粗糙面的模拟

   对于一个给定的随机粗糙面，对光波来说可能呈现很粗糙，而对微波来说却可能呈现的很光滑，这主要是因为随机表面的粗糙度是以波长为度量单位的统计参数来表征的。而描述粗糙面的统计量除功率谱密度外，还有高度起伏的概率密度函数和均方高，相关函数和相关长度，结构函数，特征函数，均方斜度与曲率半径等。下面将逐一介绍它们统计描述，并说明它们和功率谱密度间的相互关系。

图1 一维粗糙表面的模拟图（其中x轴和y轴都是以入射波长$\lambda$为单位的）

1 粗糙面中各个基本参量

图1为一个一维粗糙表面，其高度起伏$z=f(x)$，概率密度函数$p(f)$表征高度起伏的分布情况；均方根高度$\delta $又称为表面高度标准离差，对于无限长度的粗糙面，其均方根高度表示为$\delta =\sqrt{E[{ {f}^{2}}(x)]-{ {\{E[f(x)]\}}^{2}}}=\sqrt{\int_{-\infty }^{\infty }{\ { {f}^{2}}p(f)\,df-{ {[\int_{-\infty }^{\infty }{\ fp(f)\,df}]}^{2}}}}$       

$E$表示沿整个粗糙面取均值，一般以$z=0$的平面作为参考面。对于有限长度$L$的粗糙面，需要将上式积分上下限改为$-L/2\tilde{\ }L/2$，对该有限表面进行离散，设离散采样点数$N$个，离散采样间隔$\Delta x$一般在1/10波长范围内，然后通过下式计算$\delta =\sqrt{\frac{1}{N-1}\ [\sum\limits_{i=1}^{N}{ { {({ {f}_{i}})}^{2}}-N\cdot { {(E(f))}^{2}}]}}$                    

粗糙面上任意两点间的关联程度，称为相关函数$C$，定义为$C({ {x}_{1}},{ {x}_{2}})=(1/{ {\delta }^{2}})E[f({ {x}_{1}})\,f({ {x}_{2}})]$，其中$\delta $为均方根高度，${ {x}_{1}}$和${ {x}_{2}}$为表面上任意两点横坐标，常用的相关函数有高斯相关函数和指数相关函数，分别如下
$C({ {x}_{1}},{ {x}_{2}})=\exp (-{ {({ {x}_{1}}-{ {x}_{2}})}^{2}}/{ {l}^{2}})$(高斯)，$C({ {x}_{1}},{ {x}_{2}})=\exp (-\left| { {x}_{1}}-{ {x}_{2}} \right|/l)$(指数) 
其中$l$为相关长度，$D={ {x}_{1}}-{ {x}_{2}}$为表面上两点间水平距离，当$C({ {x}_{1}},{ {x}_{2}})=1/e$时需要${ {({ {x}_{1}}-{ {x}_{2}})}^{2}}/{ {l}^{2}}=1$，即此时$D={ {x}_{1}}-{ {x}_{2}}=l$，即为相关长度$l$。
对表面高度相关函数作傅立叶变换，即得到其功率谱密度函数ÿ