93k SMT8学习笔记（二）

• term = load ; 和term = hiz;的区别？

在自动测试设备（ATE）和数字电路测试中，"term = load" 和 "term = hiz" 是两种不同的术语，用于描述不同的电路或测试连接状态：

1. `term = load`（或 `term = LOAD`）：在这种情况下，被测试的电路或信号被连接到一个负载（load）电阻上。这个负载电阻通常具有一个已知的电阻值，通常是50欧姆。这种连接方式允许在测试中模拟电路的负载条件，以便进行各种测量和测试。`term = load` 可以用于测试信号的传输特性、反射损耗等。

2. `term = hiz`（或 `term = Hi-Z`，Hi-Z 表示高阻抗）：在这种情况下，被测试的电路或信号被连接到一个高阻抗（高电阻）状态。这意味着测试设备不会对被测试电路施加任何负载或电流。这通常用于测试输入电路，以确保测试设备本身的影响最小。

区别：
- `term = load` 表示连接到一个负载电阻，通常用于输出端，以模拟负载条件。
- `term = hiz` 表示连接到高阻抗状态，通常用于输入端，以减小测试设备对电路的影响。

这些设置在ATE测试中非常重要，因为它们会影响测试结果和被测试电路的性能评估。在测试计划中正确选择这些选项对于获得准确的测试数据非常关键。

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