分享高压超低噪声LDO测试结果(High Voltage Ultra-low Noise LDO)

本文详细介绍了150V输出、负载0~500mA的LDO设计,其波形峰峰值优于2mVrms。在不同负载下,输出电压波动及噪声控制良好,负载稳定度达99.82%。输出阻抗为0.54Ω,满足分立器件高压LDO的预期。测试结果显示,整个负载范围内噪声峰峰值均在500uVrms以内,符合设计要求。此外,高负载时功率管需配备2W散热片。

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LDO设计要求:

输出150V,负载0~500mA,波形峰峰值优于2mVrms;

以下是用音频分析仪测得的有效值RMS和峰峰值P-P。测试带宽10Hz~1Mhz。

图1 负载电流500mA时的波形有效值rms

图2 负载500mA时的波形峰峰值p-p

图3 负载100mA时的rms
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图4 负载100mA时的峰峰值p-p

         空载时,输出150.42V,带负载500mA时输出150.15V,比空载时低了0.27V,占比0.18%,负载稳定度99.82%(1-0.18%),稳定度还算可以。输出阻抗:0.27V / 500mA = 0.54Ω,比低压LDO的IC输出阻抗大,但作为分立器件搭建的高压LDO,这个输出阻抗我是可以接受的。

         在整个负载范围内(0-500mA)输出的噪声峰峰值都能控制在500uVrms以内,满足设计要求。

在输出负载500mA时,功率管上将会有2W的热量,所以需要2W的散热片。

图5 实物图,负载用的rigol的负载测试仪
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