JTAG接口简要介绍

一、

如图所示为20PIN的JTAG接口（注意引脚标号的排列）。
JTAG(Joint Test Action Group ,联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试以及对系统进行仿真、调试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（Test Acess Port,测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。
目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，比如ARM, DSP, FPGA等器件。标准的JTAG接口是4线：TMS, TCK, TDI, TDO,分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实现ISP（In-System Programmable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。
通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行访问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前，JTAG接口的连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示：
20pin的JTAG的引脚：

1 VTref	目标板参考电压，接电源
2 VCC	接电源
3 nTRST	测试系统复位信号
5 TDI	测试数据串行输入
7 TMS	测试模式选择
9 TCK	测试时钟
11 RTCK	测试时钟返回信号
13 TDO	测试数据串行输出
15 nRESET	目标系统复位信号
17、19 NC 未连接
4、6、8、10、12、14、16、18、20 GND	接地

14pin的JTAG的引脚：


TCK: test clock input ：（强制要求）
TCK为TAP的操作提供了一个独立的、基本的信号，TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的。

TMS： test mode selection input :(强制要求)
TMS信号在TCK的上升沿有效。TMS信号用来控制TAP状态机的转换。通过TMS信号，可以控制TAP在不同的状态间相互转换。

TDI：test data input(强制要求)：
TDI是数据输入的接口。所有要输入到特定寄存器的数据都是通过TDI接口一位一位串行输入的（由TCK驱动）。

TDO:test data output(强制要求)：
TDO是数据输出的接口。所有要从特定的寄存器中输出的数据都是通过TDO接口一位一位串行输出的（由TCK驱动）。

TRST: test reset input（可选项）：
TRST可以用来对TAPController进行复位（初始化）。因为通过TMS也可以对TAP Controll进行复位（初始化）。所以有四线JTAG与五线JTAG之分。

VTRSF----（强制要求）：
接口信号电平参考电压一般直接连接Vsupply。这个可以用来确定ARM的JTAG接口使用的逻辑电平（比如3.3V还是5.0V）

RTCK:return test clock：（可选项）：
可选项，由目标端反馈给仿真器的时钟信号,用来同步TCK信号的产生,不使用时直接接地。

nSRST:system reset(可选项)：
可选项,与目标板上的系统复位信号相连,可以直接对目标系统复位。同时可以检测目标系统的复位情况，为了防止误触发应在目标端加上适当的上拉电阻。

USER IN:
用户自定义输入。可以接到一个IO上，用来接受上位机的控制。

USER OUT:
用户自定义输出。可以接到一个IO上，用来向上位机的反馈一个状态。

由于JTAG经常使用排线连接，为了增强抗干扰能力，在每条信号线间加上地线就出现了这种20针的接口。但事实上，RTCK、USER IN、USER OUT一般都不使用，于是还有一种14针的接口。对于实际开发应用来说，由于实验室电源稳定，电磁环境较好，干扰不大。

注：第一幅图片来自百度;部分内容参考博客：https://blog.csdn.net/xqhrs232/article/details/38168179