X射线光电子能谱（XPS）是一种常用的表面分析技术，用于研究材料的化学成分、化学状态和电子结构。在XPS测试中，样品暴露在X射线束下，被激发的光电子通过能谱分析仪测量其能量分布，从而提供有关样品表面的详细信息。下面将详细介绍XPS能谱测试分析的特点和原理。
XPS能谱技术的特点：
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