BP_Analyzer_完整笔记

分析脑电事件相关电位波形简要步骤：

1. 1. （转参考）变更参考电极  New Reference
   2. （去眼电）眼电纠正  Ocular Correction
   3. 滤波  Filters
   4. 分割  Segmentation
   5. 基线校正  Baseline Correction
   6. 伪迹去除  Raw Data Inspection
   7. 叠加平均  Average

详细步骤(很长很长很长。。。慢慢看，从word笔记中复制粘贴过来好麻烦。。嗄嗄嗄。。。)：

一、打开界面，建立新的工作区，选择File—New，(Raw Files:原数据路径，History Files操作过程中数据路径，Export Files：导出数据路径，最后保存数据路径)，文件命名，同时建立三个文件夹

鼠标放在Raw Data上，鼠标右键，点击弹出窗口中的Recording infos,可以查看当前信号采集时具体参数设置，以及每个导联阻抗值，

根据以下步骤分析得到脑电事件相关电位波形

1. 变更参考电极（转参考）

New Reference ：现在的电极帽都是以FCz做为参考电极，而实际分析ERP波形时，大部分都是根据A1A2做为参考电极

（BP的脑电帽TP9相当A1，TP10相当A2），所以根据实际要求进行更换参考电极。

在“Transformations”下拉菜单 “Channel Preprocessing” 中的选择“New Referece”，按以下窗口操作：

下面弹出的界面，双击转参考的电极，TP9，TP10，下方的勾去掉（表示参考电极不包括原参考电极FCz,如果勾选表示以原参考FCz，以及 TP9，TP10三个电极的平均值作为参考电极；不勾选以TP9，TP10两个电极的平均值作为参考电极），然后下一步。

先把所有电极全部移到右边（利用按住shift键,鼠标拖动选择），再把TP9，TP10移到左边。下方的勾去掉（表示后面数据分析不保留对TP9，TP10数据分析；如果勾选则表示后续操作依旧会对TP9，TP10操作，但TP9，TP10数据仍是以最初FCz作为参考记录的数据，），然后点击下一步。

New Reference Channel:表示添加一个参考电极的名称，不加。即不勾此处

Old Reference Channel：表示是否将原来的参考电极作为一个新的记录电极（FCz数据的重要程度），此处加上，电极名称命名为FCz

最后点击完成。

 

2. 眼电纠正（去眼电）  

Ocular Correction ：将眨眼或眼动带来的肌电影响进行纠正（分垂直眼电和水平眼电）。

在“Transformations”下拉菜单中的选择,”Artifact Rejection”,再选择，“Ocular Correction ICA”，弹出（用传统的去眼电方法（Ocular Correction）效果不好，而且去除眼电时容易去除过度）

选择下一步。

检测眼电方式：选择通过平均波幅，再选择下一步。

选择检测眼电的电极，并选择下一步。

BP-64导脑电帽不用参考水平眼电也可以，也可以用FT9用来参考水平眼电

VEOG，垂直眼电，核磁型的选择ECG，非核磁型的选择，IO

HEOG，水平眼电，选择用FT9

做独立成份分析，选择时间长度为50s,事先浏览所有波形，选择较好的一段处理，之后处理的数据套用在整段数据中，然后下一步。

再下一步。

（半自动去眼电需要手动选择眼电成分，会有下面操作，全自动去眼电则没有后面手动操作直接到3.滤波）

 

电极放大观看；

电极选择放大，按住ctrl，同时点击要选择的电极，选择结束后，双击鼠标左键

观察右边选择的红色电极对应的波形，如果波形与被测垂直眼电电极的波形相一致则选择（变红），否则不选择（绿色），即双击相应电极使其变绿。全部选择后，点击finish。

（此步可以不操作，观察去眼电前后脑电波形的的变化：鼠标选中，去眼电前一步操作数据，直接拖到波形显示界面）

3.滤波  Filters： 根据所要分析的信号频率，适当设定波形带宽，滤除不必要的信号。

 

参数：low Cutoff一般选0.05，High Cutoff,滤波设置在30左右，（具体根据实际选择），Notch交流电50HZ限波,（50Hz工频干扰较大则选），Order,滤波强度选择4，中等即可（选到4，相对应的24db,,选择8，对应48db），最后点击OK，进行滤波。

 

4.分段  Segmentation ：根据标志将要进行叠加平均的脑电信号提取出来。

分段标准：默认选根据marker的位置来分段，下一步

Marker类型，根据事件类型切割，双击从左边移动到右边，（将S11,S22,S33,）

（由于后面做叠加平均时，BP不能自动根据事件类型做叠加平均，所以此处要只选择一个事件类型，如S11，然后后面的一系列操作处理做完后，再选择，S22,操作照上，然后再选择S33）

设置切割的时间段，设置为从刺激开始的前-300ms，到刺激呈现后的1300ms,总共1600，

（Skip Bad intervals ,跳过之前伪迹设置bad的时间段，以及其他判定bad的时间段。）

弹出以下界面，界面下方显示1/30，表示当前界面中grid 显示的是第2段，总共有30段。

5.基线校正  Baseline Correction （分段后做）

选择刺激前的300ms，作为基线矫正的时间段

6.伪迹去除 ：去除由于设备或被试动作带来的伪差信号，干扰信号,不相关的信号噪音。

方法一、Artifact Rejection(需手动)

选择半自动处理

电极全部选择，（除了眼电，此处用EOG采集的垂直眼电，核磁型的则选IO采集的垂直眼电，另外，两个脑电帽都是用FT9作为水平眼电参考，HEOG）

设置去除伪迹的标准；

设置每个毫秒电极电压变化超过50uv, 判定前后200ms范围内为伪迹

设置在200ms范围内，电极电压峰峰值超过200uv，判定前后200ms范围内为伪迹

 

波幅超过-100~100uv判定前后200ms范围内为伪迹

 

 

设置在100ms范围内，电极电压峰峰值低于0.5uv，判定前后200ms范围内为伪迹

 

伪迹各种参数都设置后，点击OK，然后就开始进行除伪迹处理了

 

半自动OK后会弹出界面，按住shift键，同时鼠标点击左键，可以对波形进行选中操作，伪迹选中或去除，最后点击OK。

全自动则直接跳过shift这一步操作。

方法二、Raw Data Inspection(自动)，此法用在Filter后，但不建议用该方法，当数据漂移较严重，或干扰很大，伪迹很大时可能会被去过度，导致数据最后剩余的trial很少。

伪迹占整个数据的的百分比，一般不要超过20%，超过20%数据就没有可靠性，（个别电极超过20%，且电极信号对后续数据不是很重要可以去掉，但是如果很多电极伪迹超过20%，则此数据放弃使用，或重新设置之前设置的参数。）

查看统计数据，确认数据没问题后，就可以点击界面的OK，

选中伪迹的时间段部分粉红色标记出来，后续处理中直接跳过这段数据。

7.叠加平均  Average

鼠标双击，单个电极名，可放大观看，

鼠标放在波形图上，点击鼠标右键，弹出选项，则显示地形图

调从脑上往下看，100度角度观看，,鼠标放在地形图上，右键，弹出选项，选择Settings of Mapping View…

 

8、另外，还可以进行峰值检测（Peak Detection）,步骤如下：

Transformation→Segment Analysis Functions→Result Evaluation→Peak Detection,弹出如下窗口

点击Next,

如上图所示，填写所要检测的峰值的名称、范围等。

点击Next，选择所要记录的脑区，如下图所示，

完成后，出现如下界面，预览下结果，如可以，点击ok即可。

出现如下界面，

还可将峰值导出到Excel等文件中，步骤如下：

Export→Peak Information,弹出如下窗口，依次填写以下红线标注的地方。

点击Close便可导出text文件，可用Excel将其打开，便于后期统计。

 

二、批处理

如若之后处理步骤与上述的一致的话，就可以进行批处理（如果在数据处理过程中并非全部自动，而有手动部分则在批处理过程会在每一步的手动操作停止，待手动操作结束后继续批量处理，），步骤如下：

History Template→New,出现以下界面，将左边处理好的步骤拖到Root里即可，就生成了一个数据处理模板，之后的数据，拖动Root到所要处理的原数据即可。

当有大量的数据要处理时，则用另一种批量处理方法，

然后，点击Apply to History Files

注意：

格外：

格外的参数设置：

设置，坐标轴正值在上，负值在下，显示

此处，画横线的勾，去掉

在做完，去眼电，滤波  Filters后，[分段切割Segmentation ，基线校正  Baseline Correction ，伪迹去除  Raw Data Inspection，叠加平均  Average]   可以简单的一起处理，即将相同步骤拖到所要处理的部分即可。