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原创 元器件降额测试方法

所谓元器件STRESS是指检查待测组件在特定的工作条件下各参数与其规格比较,还有多少余量(Derating), 元器件STRESS包括四部份: 温度STRESS,电压STRESS,电流STRESS,功率STRESS,下面分别进行讨论.Ta: 零件周围的环境温度(零件周围的具体位置在零件规格中有规定 )的计算方法: A. 二极管: (可从规格中查到, I是实际测量值)Tc: 所测量到的零件表面的温度.Tj: 计算所得到的结温度.元器件STRESS测试方法。零件表面到结点的热阻。