红外气体分析仪是利用红外气体分析技术,根据被分析元件的浓度,辐射能量的吸收不同,其余的辐射能使探测器的温度不同,运动膜两侧的压力不同,从而产生电容探测器的电信号,从而间接测量待分析元件的浓度。
红外线气体分析仪是根据比尔定律制成的。假定被测气体为一个无限薄的平面,强度为k的红外线垂直穿透它,则能量衰减的量为:
I=I0×ekCL (比尔定律)
式中:I--被介质吸收的辐射强度;
红外气体分析仪是利用红外气体分析技术,根据被分析元件的浓度,辐射能量的吸收不同,其余的辐射能使探测器的温度不同,运动膜两侧的压力不同,从而产生电容探测器的电信号,从而间接测量待分析元件的浓度。
红外线气体分析仪是根据比尔定律制成的。假定被测气体为一个无限薄的平面,强度为k的红外线垂直穿透它,则能量衰减的量为:
I=I0×ekCL (比尔定律)
式中:I--被介质吸收的辐射强度;