汽车信息安全--安全调试功能在量产后是否必须禁用(1)

目录

1.芯片生命周期与调试接口

2. 安全调试安全在哪里

2.1 常见安全调试解锁手段

 2.2 响应挑战解锁的两种实现

3.Debug via Commnucation

4.小结

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1.芯片生命周期与调试接口

在整车产品中，芯片的生命周期是严格与整车绑定到一起，大致可分为：芯片出厂阶段、Tier-1开发阶段、OEM量产阶段、售后阶段和报废阶段。

在不同生命周期里，芯片对外暴露出的资源通常是不一样的，如下：

• 开发阶段：芯片资源完全开放，可用于对开发调试以及测试；
• 量产阶段：仅提供芯片用户配置区、代码及数据烧写功能；
• 售后阶段：无内部资源暴露
• 报废阶段：用户数据、敏感数据等销毁

在开发阶段，Debug接口例如JTAG、SWD用于对软件进行调试；由于Debug口可访问芯片里的CPU、外设、Memory等资源，因此从信息安全角度来看，这是一个很明显的攻击路径。

在产品量产后，如果Debug口不禁用，一旦攻击者通过debug连接到ECU，那么很有可能对ECU进行注入恶意代码攻击、套取密钥、逆向工程等，从而对OEM、T