FLASH抽象层（FAL）程序解读及测试（rt-thread）

卡姆图拉夫

已于 2022-03-05 08:52:30 修改

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文章标签： rt-thread

于 2020-08-25 14:49:25 首次发布

本文链接：https://blog.csdn.net/doyoung1/article/details/108220715

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本文介绍了FAL（FLASH抽象层）在RT-Thread操作系统中的应用，详细讲解了FAL_Flash设备结构体，包括片上和外部FLASH结构，并阐述了FAL层的主要任务——创建Flash设备和分区实例。通过实例展示了如何配置不同大小的Flash设备和分区，强调了结构体在理解和使用FAL中的重要性。

摘要由CSDN通过智能技术生成

结构体说明

FAL_Flash设备结构体
在此结构体中，嵌套了操作方法的结构体，在使用FLASH设备的时候，不同的Flash设备处于不同的c文件中，首先进行实例声明，然后在各自的c文件中编写方法的具体实现，这样虽然大家用的函数名是一样的，但是具体方法是各自分开的。

struct fal_flash_dev
{
   
    char name[FAL_DEV_NAME_MAX];

    /* flash device start address and len  */
    uint32_t addr;
    size_t len;
    /* the block size in the flash for erase minimum granularity */
    size_t blk_size;

    struct
    {
   
        i