什么是嵌入式芯片封装存储器(eMCP)?

ePOP、eMCP ePOP、eMCP 均为 NAND Flash 和 LPDDR 二合一的存储器产品,其中 ePOP 广泛应用于对芯片尺寸、功耗有严苛要求的移动智能终端,尤其是智能手表、智能手环、VR 眼镜等智能穿戴设备领域,而 eMCP 则广泛应用于智能手机、平板电脑等智能终端。

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图1 eMCP=eMMC+LPDDR+标准封装

什么是嵌入式芯片封装存储器(eMCP)?

eMCP是结合eMMC和LPDDR封装而成的智慧型手机记忆体标准,与传统的MCP相较之下,eMCP因为有内建的NAND Flash控制晶片,可以减少主晶片运算的负担,并且管理更大容量的快闪记忆体。以外型设计来看,不论是eMCP或是eMMC内嵌式记忆体设计概念,都是为了让智慧型手机的外型厚度更薄,更省空间。uMCP是结合了UFS和LPDDR封装而成的智慧型手机记忆体标准,与eMCP相比,国产的uMCP在性能上更为突出,提供了更高的性能和功率节省。

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图2 eMMC=Nand Flash+控制器+标准封装

与传统的MCP相比,eMCP不仅可以提高存储容量,满足手机对大容量的要求,而且内嵌的控制芯片可以减少主CPU运算的负担,从而简化和更好的管理大容量的NAND Flash芯片,并节省手机主板的空间。

eMCP深受低端客户青睐,且仍在中低端手机中广泛应用,主要原因是eMCP具有高集成度的优势,包含eMMC和低功耗DRAM两颗芯片,对于终端厂商而言可以简化手机PCB板的电路设计,缩短出货周期。

其次,eMCP是将eMMC和低功耗DRAM进行封装,这样相较于eMMC和移动DRAM分开采购的价格要低,对于中低端手机而言有利于降低成本,尤其是在前2年NAND Flash和DRAM涨价的时期,更有利交易和议价。

更多关于eMCP、DDR、eMMC测试,详询启威测实验室。sales02@qwctest.com

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MTK平台EMCP老化自动测试程序是一种用于测试EMCP(Embedded Multi-Chip Package)芯片老化性能的自动化程序。 EMCP是一种集成Flash存储器和LPDDR存储器的封装,广泛应用于移动设备中。在长时间使用中,由于环境温度、使用频率等因素的影响,EMCP芯片可能会出现老化问题,导致性能下降甚至损坏。为了确保产品的可靠性和性能稳定,需要进行老化测试。 MTK平台EMCP老化自动测试程序能够自动化执行一系列老化测试步骤。首先,通过设置不同的温度和频率条件,模拟不同的使用环境,对EMCP芯片进行长时间运行。在运行过程中,程序会监测芯片的工作状态和性能表现,记录下关键数据。 测试过程中,程序还会执行一些特殊的操作,如数据读写、擦除和校验等,来验证芯片的正确性和可靠性。通过不断变化的测试条件和操作,可以全面评估EMCP芯片在各种使用场景下的老化性能和可靠性。 最后,测试程序会生成一份详细的测试报告,包括每个测试步骤的结果和关键数据的记录。这些数据可以帮助芯片制造商和设备制造商评估芯片的质量和稳定性,并做出相应的调整和改进。 总结来说,MTK平台EMCP老化自动测试程序是一种针对EMCP芯片老化性能的全面测试工具,能够自动化执行一系列测试步骤,模拟真实使用环境,评估芯片的性能和可靠性,为芯片制造商和设备制造商提供可靠的数据和参考,确保产品的质量和可靠性。

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