材料分析方法

一、EBSD

制样要求：平整光滑，机械研磨，震动抛光/电解抛光，EBSD测试不要腐蚀。

利用背散射电子对材料微区进行表征，能够获得材料的晶体取向，取向差，织构分析，相分析，晶粒大小和相界分析，从宏观到亚微观甚至纳米尺度进行结构的定性和定量分析。

1. 极图(PF)：能够一定程度反映材料的取向关系，但准确度不够高，因为不同的晶粒晶面投影在极图上可能会重叠，不同的织构可能重叠，即使相同的织构也可能会重叠，当超过一个之织构时极图是很难准确反应织构的。
2. 反击图(IPF)：消除了同一织构重叠部分，一定程度上减少重叠投影，但不同织构仍然会有部分重叠，会有一个极图，反极图会归一到一个类小三角形里，三个角表示三中不同晶面。
3. 三维取向分布函数(ODF)：能够准确反映，从z方向观察晶粒取向，颜色会表示晶体取向，如图所示：
4. 菊池花样：加速电压越高，菊池花样效果越明显，带宽越窄。应变分析，菊池花样带宽稍微宽一点较好。

二、XRD检测

 Xrd能够进行材料定性分析，计算晶格间距、计算粒径大小、简单的半定量计算。

XRD已经相当成熟，重要的数据的处理。