芯片测试-Python实现

一、题目

题目描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知①好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。②用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本 身进行测试）。
输出
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

 二、Python代码

n = int(input())
arr = [list(map(int,input().split())) for i in range(n)]
tmp = [True] * n
for i in range(n):
    count = 0
    for j in range(n):
        if arr[j][i] == 0:
            count += 1
        if count > n/2:
            tmp[i] = False
for i in range(n):
    if tmp[i]:
        print(i+1,end=' ')

三、解释与总结

n表示的是芯片测试的个数，也就是生成的矩阵的行数，第二行是一个列表生成式，从里向外看，map()函数在这里的作用是将输入的内容转换为int类型，input().split()将输入的内容用空格分隔，简单来说就是你输入的数字用空格隔开后他就知道你要输入下一个数字了，例如输入10和1 0，计算机眼中一个是10一个是两个数字1和0，list()表示生成一个列表，就是把之前输入的一行用空格隔开的内容生成一个列表，其实就是矩阵的一行，for之后的表示遍历整个list()表达式n次，也就是生成n行。tmp生成了n个内容为True的列表。之后就是熟悉的二维数组的双重循环，其中最重要的是arr[j][i] == 0 这行代码，我开始就很疑惑为什么不是arr[i][j]呢？arr[j][i]是i固定，j变化，也就是看这一列，这一列表示的同一个测试芯片被测试的结果，而arr[i][j]表示的是这个芯片的测试结果，如果被测试结果中有超过半数的测出他损坏了，那么他就一个是坏的，因为好芯片是大于坏芯片的，因此就把这个芯片对于序号的tmp设置为False表示它坏了，最后打印。