华为OD机试 - 出错的或电路 - 二进制 （Java 2025 B卷 100分）

一、题目描述

某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定，具体现象为计算两个二进制数的或操作时，第一个二进制中某两个比特位会出现交换，交换的比特位置是随机的，但只交换这两个为，其他位不变。

很明显，这个交互可能会影响最终的或结果，也可能不会有影响。

为了评估影响和定位出错的根因，工程师需要研究在各种交换的可能下，最终的或结果发生改变的情况有多少种。

二、输入描述

第一行有一个正整数N,其中 1 <=N <=1000000。
第二行有一个长为N的而二进制数，表示与电路的第一输入数，即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。

三、输出描述

输出只有一个整数，表示会影响或结果的交换方案个数。

四、解题思路

1. 输入的二进制数的位数；
2. 输入第一个二进制数；
3. 输入第二个二进制数；
4. 统计两个二进制数中 0 和 1 的个数；
5. 遍历两个二进制数的每一位；
6. 如果 bin1 的该位是 0；
   • 统计 bin1 中 0 的个数加 1；
   • 如果 bin2 的该位也是 0，统计 bin2 中 0 的个数加 1；
7. 如果 bin1 的该位是 1；
   • 统计 bin1 中 1 的个数加