自动化测试 | 解决方案聚焦：如何使用PXI仪器进行高级数字测试

虹科电子科技

于 2020-12-03 15:31:17 发布

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分类专栏：测试测量文章标签： PXI 自动化测试

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本文演示了灵活，可扩展PXI平台的开放式体系结构和其硬件与软件的优势，用于半导体测试

被测设备

目标设备是具有802.11n和蓝牙功能的WiFi IC。在查看了目标IC规范后，确定了一组测试IC的资源要求，并将其与PXI尺寸中可用的仪器相匹配。被测设备（DUT）需要四个电源，并且在给DUT上电时必须按特定顺序对电源进行排序。

此外，尽管DUT的IDD非常低，但在初始化DUT时，其中一个电源的浪涌电流可能会超过1A。电源要求强制使用可编程电源，并且必须容纳1A的浪涌电流。初始加电时，DUT处于低功率空闲状态，因此可以进行通信。DUT上有两个通信端口：JTAG端口和扫描端口。JTAG端口用于配置和初始化DUT，并执行IO的初始结构测试。扫描端口用于配置DUT的运行并完成结构IO测试。还可以使用“扫描”端口控制DUT进行其他功能测试。

由于DUT已经在UltraFlex系统上进行测试，因此DUT有一套经过验证的测试模板，可用于PXI系统。Marvin Test Solutions的文件转换工具可用于将ATP文件转换为硬件特定的模式，数字测试仪器满足准确表示ATP模式文件参数所需的速度、信道密度、模式深度和定时能力。

测试系统

为了代替与UltraFlex系统相关的IC处理器，需要一种与DUT进行接口的方法。设计了专用的DUT板，并通过电缆将其连接到演示系统的仪器。DUT板设计经过模块化处理，可以轻松扩展测试站点的数量，并展示多站点测试功能。

所示的系统设计包括GX7100B PXI 3U / 6U组合式智能机箱。需要3U和6U PXI插槽的组合以容纳两个GX7400A可编程电源。每个GX7400A在三个6U插槽中提供两个150W可编程电源。

选择了四个GX5296 PXI模块作为DUT的数字测试仪器。GX5296每块卡提供32个IO通道，每个通道具有完整的PMU功能，64M模式深度，125 MHz时钟速率，1nS边沿时序分辨率，每个引脚的时序以及DUT响应数据的实时比较。使用MTS的GtDio6x-FIT文件转换工具，从UltraFlex ATP模式文件转换了数字测试模板，并进行了格式化，以使每个DUT的模式都驻留在两个GX5296仪器上。将功能从测试一个DUT扩展到两个DUT只需添加第二组GX5296仪器，并将这些模块连接到第二个DUT测试板即可。