安捷伦N7788B光元器件分析仪

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主要优点
单次扫描的最高精度：无需对多次扫描进行平均
测量速度快
在不到10秒的时间内完成C / L波段的测量（无需等待很多平均值）
抗纤维运动/振动和漂移的坚固性
描述
是德科技利用N7788BD组件分析仪推动了元件测量的极限。其专有技术可与众所周知的Jones-Matrix-Eigenanalysis（JME）相媲美，后者是测量光学器件的偏振模色散（PMD）或差分群延迟（DGD）的标准方法。

是德科技的新型单扫描技术提供了一系列优势来测试一整套参数：

DGD / PMD
PDL
电力流失
TE / TM-Loss
二阶PMD
极化主要国家（PSPs）
琼斯和穆勒矩阵
专为制造车间设计

高通量：在不到10秒的时间内完成C和L波段的完整分析！

软件驱动程序：一系列软件驱动程序可用于系统的外部控制。这样可以轻松集成到通用ERP系统中。

远程控制：支持通过LAN或Internet控制仪器。这支持自动化和故障排除。

报告生成：支持生成PDF报告。包括布局的内容可由用户配置。

实时功率读数：通过提供实时功率读数来支持非连接器组件的高吞吐量测量，从而实现新设备的光纤耦合。