存储性能测试

依照存储性能基准所说的，对存储性能（IOPS与响应时间部分）的测试方案：

最大IOPS。

确定这个值，最初的思路很自然是对测试设定请求频率，逐渐增大，一直到极限状态，即实际完成的IOPS不及设定的频率高，此时就是最大IOPS。但是很快发现实际测试中没有办法准确实现这种思路。由于计算IOPS本身带有边缘误差，正常状态下可以忽略边缘情况，也就忽略了误差。但是判断极限状态也是在分析边缘情况，造成误差无法忽略，而且极大影响了测试精度。

转换思路，对于平稳系统，可以认为系统是在一定并发条件下达到最大IOPS的，即此时每个所谓并的发过程都是一刻不停的响应IO请求。ps：而这里再次提出的并发条件跟存储性能基准中分析的并不矛盾，系统本身是有并发能力这个说法，只是在实际使用时，从外部看来，没有意义而已。而这里，从外部看，最后有意义的也只是一个峰值点。

这样，在测试端模拟一定并发条件，每个过程不停的循环请求，并测得IOPS。最后拟合曲线，得到一个峰值，即最大IOPS。

不同IOPS下的响应时间

模拟不同频率的IO，统计相应时间。ps：将测试时间拖长，远大于平均响应时间，以减少边缘误差。