前言:充电问题在手机研发和其它的移动设备中是非常常见的一种类型,其中最主要的有两种:充电电流小和类型识别错误,那么在遇到这种充电问题时,我们究竟应该如何分析,才能一步步探究到问题的根源呢?本文即总结了一些常见的充电问题分析手段,以及该分析措施的原因,以便各位同仁更快的对问题进行定位(以MTK平台为例,高通平台同理)。
问题1:充电电流小,充电速度比预期的慢。
(1)首先确认两个值:AICR(IBUS限流)和ICHG的设置是否正确
——AICR(IBUS限流)设置的过低,会导致进入电池的IBAT也会被限制住。
(2)抓取MTKlog读取和测量真实的IBUS和IBAT电流值,判断系统功耗是否偏大,导致IBAT偏小
——IBUS较低的情况下,系统功耗大,导致IBAT被抽电。
(3)测量VBUS靠近charger IC端的电压,是否太低,比如低于4.5V(触发AICR/DPM导致限流)
——USB cable线的阻抗过高,PCB layout的VBUS走线又过细和过长,阻抗偏大,导致VBUS靠近charger IC端的电压偏低,充电器又功率不够。
<