东华OJ 进阶题14 芯片测试

问题描述 :

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入说明 :

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出说明 :

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

输入范例 :

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

输出范例 :

1 3 

完整C++代码

这题和普通题里的一道一模一样的，详细解析跳转芯片测试

#include <bits/stdc++.h>

using namespace std;

int main()
{
	int n;
	cin >> n;
	int arr[n][n];
	for (int i = 0; i < n; i++) {
		for (int j = 0; j < n; j++) {
			cin >> arr[i][j];
		}
	}
	int col[n] = {0};
	for (int j = 0; j < n; j++) {
		for (int i = 0; i < n; i++) {
			if (i != j && arr[i][j] == 1) col[j]++;
		}
	}
	for (int i = 0; i < n; i++) {
		if (col[i] >= n / 2) cout << i + 1 << " ";
	}
	return 0;
}

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