问题描述 :
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入说明 :
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出说明 :
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输入范例 :
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出范例 :
1 3
完整C++代码
都在注释里了😆虽然提示深度优先遍历,但是没必要
#include <bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
int n;
cin >> n;
int arr[n][n] = {0};
// 读懂题意,arr[i][j]就是第i个芯片测第j个芯片
// 第i行就是第i个芯片测其他芯片
// 第j列就是第j个芯片被其他芯片测
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
cin >> arr[i][j];
}
}
// 所以直接按列统计1和0的个数即可
int count[n] = {0};
// 因为好芯片测试结果一定是1,坏芯片测试可能是1可能是0,所以统计中1多的一定是好芯片
for (int j = 0; j < n; j++) {
for (int i = 0; i < n; i++) {
if (i != j && arr[i][j]) count[j]++;
}
}
for (int i = 0; i < n; i++) {
// 如果超过或者等于半数一定是好芯片
if (count[i] >= n / 2) cout << i + 1 << " ";
}
return 0;
}
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