基于C#编程实现工厂ATE设备运行状态监控

芯片测试厂ATE设备运行状态监控系统

服务端界面

在这里插入图片描述在这里插入图片描述在这里插入图片描述

客户端界面

在这里插入图片描述

实现原理

1、客户端

在被监控Windows系统中安装服务(服务作用是监控客户端程序是否启动和实现开机自动启动),当测试机在测试时检测某个文件是否产生数据(不同测试机文件不同),在将数据发送至软件客户端显示同时发数据发送至服务器供服务端程序读取显示。

2、服务端

在Windows系统服务端中安装服务端程序,实时监控客户端所发送的数据,根据数据可以查看测试机当前在测试的waferID、程序名称、wafermap、探针台信息、测试机信息,还可以通过服务端向客户端发送报警(客户端要有外接喇叭或者文字提示),比如探针台停止10分钟后发出报警,提醒产线操作员;同时还可以统计每片wafer测试单片时间,减少人为干预,从而提高生产效率。

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