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STE_V1.0系统框图
IC验证平台原创 2015-04-21 20:10:43 · 612 阅读 · 0 评论 -
STE_V1.0平台设计文档
IC验证平台原创 2015-04-21 20:02:31 · 2086 阅读 · 0 评论 -
避免放大器电路设计中的常见问题
引言与分立器件相比，现代集成运算放大器（op amp）和仪表放大器（in-amp）为设计工程师带来了许多好处。虽然提供了许多巧妙、有用并且吸引人的电路。往往都是这样，由于仓促地组装电路而会忽视了一些非常基本的问题，从而导致电路不能实现预期功能——或者可能根本不工作。本文将讨论一些最常见的应用问题，并给出实用的解决方案。AC耦合时缺少DC偏置电流回路最常遇到的一个应用问题是在转载 2015-06-23 20:07:08 · 1802 阅读 · 0 评论 -
各种流行验证技术在芯片设计流程中的应用
作者:Rangarajan (Sri) Purisai上网时间:2005年01月01日本文阐述了当今流行的验证技术(形式验证、随机、定向、约束随机、断言、属性检查)和语言(SystemC、C/C++、SystemVerilog、Open-VERA、E等等)，还探讨了各种验证技术在数字ASIC传统设计流程中的场合(应采用何种技术和语言)和时机(设计者何时需要运用某转载 2015-09-17 13:40:01 · 1285 阅读 · 0 评论