GD32F130之LVD低压检测

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分类专栏： GD32F130开发指南 文章标签： stm32 单片机 gd32
于 2022-05-05 16:34:08 首次发布
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本文详细介绍了GD32F130单片机的LVD（低压检测）功能，包括其工作原理、阈值配置、配置步骤以及如何通过EXTI实现LVD中断，进而利用LVD中断进行掉电数据保护，减少对存储器寿命的影响。

摘要生成于 C知道 ，由 DeepSeek-R1 满血版支持， 前往体验 >

简介

LVD的功能是检测 单片机VDD / VDDA 引脚上的供电电压是否低于低电压检测阈值，该阈值由电源控制寄存器(PMU_CTL)中的LVDT[2:0]位进行配置。有以下几种阈值可选：

低压检测阈值选择LVDT[2:0] 

  • 000：2.2V
  • 001：2.3V
  • 010：2.4V
  • 011：2.5V
  • 100：2.6V
  • 101：2.7V
  • 110：2.8V
  • 111：2.9V

LVD的检测结果就是以标志位LVDF的形式体现的，当芯片的VDD 和VDDA引脚输入的电压低于PMU_CTL寄存器中的LVDT[2:0]位进行配置的阈值电压时，LVDF标志硬件置1，否则LVDF硬件清0。可见LVDF标志只读，完全由硬件改写。

以下是简化后的LVD阈值波形图。手册上的图强调了LVD有100mV的迟滞电压，也就是说在掉电阶段，实际触发低压检测事件的阈值是比设置的阈值低100mV左右的。为了方便理解，这里忽略这个因素。

从下图可以发现，在上电阶段，

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