EMI

7.3 SPI接口数字串扰
MCP3912具有一个高速20MHZSPI数字接口。如果 在没有任何防范措施的情况下全速运行，该接口会产 生串扰，特别是对于靠外侧的通道（如CH0）o串扰 是由数字SPI信号产生的开关噪声引起的（也称为地 弹反射）。在这种情况下，这种串扰会对SNR产生不 利影响。如果在模拟和数字电源之间采取适当的隔离 措施，可以衰减这种噪声（见第7.2节“电源设计和 旁路”）。
为了进一步消除SPI通信对测量精度的影响，建议在 SPI线路上添加串联电阻，以减少由数字开关噪声引 起的电流毛刺（见图7・5,其中采用了这些电阻）。这 些电阻也有助于保持很低的电磁辐射水平。
MCP3912数据手册中提供的测量图是在每个SPI I/O引 脚连接100Ω串联电阻的情况下获得的。即使在20 MHz 接口的全速操作下，也未观察到测量精度干扰。
由于引脚排列方面的差异（双列直插或四方），串扰性 能会依赖于封装选择，在QFN-28封装中会有所改善。

图7・5给出了一个直接连接高电压线路（例如，双线 120V或220V系统）的更详细示例。在同时为系统提 供接地的高侧/线路侧，使用一个电流检测分流器来进 行电流测量。这是必需的，因为该分流器直接连接到 MCP3912的通道输入引脚。为了降低对外部影响（如 EMI）的敏感性，这两条线应构成双绞线，如图7.5所 注。电源和MCU分别位于PCB右侧，由数字地平面 包围。MCP3912位于左侧，由模拟地平面包围。有两 个独立的电源送到系统的数字部分和模拟部分（包括 MCP3912）。使用这种布局时，存在两个独立的电流 供应路径和电流返回路径：Ia和Id。

数字和模拟地平面之间的铁氧体磁珠有助于阻止高频噪声进入器件。建议该铁氧体磁珠为低电阻；通常它是一个 THT 元件。铁氧体磁珠通常放在分流器输入端，并放入电源电路来提供额外的保护。