芯片测试问题 zz

题目：

(30分)
芯片测试：有2k块芯片，已知好芯片比坏芯片多．请设计算法从其中找出一片
好芯片，说明你所用的比较次数上限．
其中：好芯片和其它芯片比较时，能正确给出另一块芯片是好还是坏．
坏芯片和其它芯片比较时，会随机的给出好或是坏。

题目分析：

不妨设用芯片比较时，0表示好的判断，1表示坏的判断，X表示不确定的判断。
两个芯片进行比较时，可能出现三种情况：
   a) 两个都好 ==> (0,0)
   b) 一好一坏 ==> (1,X)
   c) 两个都坏 ==> (X,X)
情况a为真，则其逆否命题也为真。知：
   如果两个芯片比较结果中出现1，则这两个芯片中至少有一个是坏的。 ……（一）
好芯片比坏芯片多。知：
   将2k块芯片平分为两堆芯片，则这两堆芯片中都至少含有一个好的芯片。 ……（二）

根据（一）（二），可以设计如下算法：
   算法输入：2k块芯片，其中好芯片比坏芯片多
   算法输出：一片好芯片
   算法过程：
     1) 将所有芯片平分为两堆，记为A和B。
     2) 如果A中只包含一个芯片，则返回该芯片；否则从A中任取一个芯片，记为t。
     3) 将t与A中其他芯片依次进行比较，有两种可能：
         3.1) 一旦比较时结果中出现1，则将进行比较的两片芯片排除出A，同时从B中任取一个芯片加入A，转至第2步；
         3.2) 所有比较都得到结果(0,0)，则返回芯片t。
   算法说明：
       步骤2中，如果A中只包含一个芯片，则B中也只包含一个芯片，由于好芯片比坏芯片多，所以只可能这两个芯片都是好芯片。
       步骤3.1中，如果比较时结果中出现1，根据（一），这两片芯片中至少有一个是坏的，那么将这两片芯片排除出A后，A和B合起来依然满足好芯片比坏芯片多的条件，对原问题的求解转为对同结构子问题的求解。从B中任取一个芯片加入A，可以实现再次平分。
       步骤3.2中，比较都得到结果(0,0)，则芯片t一定是好芯片。否则假设t是坏芯片，而根据（二），A中至少含有一个好芯片，用该芯片与t比较时，得到的结果应为(1,X)，与所有结果都为(0,0)矛盾。其实可以进一步证明，此时A中所有芯片都是好芯片。
   算法复杂度分析：
       最坏的情况下，总是不进入步骤3.2，且每次步骤3.1中都是比较到最后一块芯片才出现结果1，则此时需要比较的总次数为(k-1)+(k-2)+...+1 = k*(k-1)/2；因此该算法时间复杂度为O(n^2)，其中n为总的芯片个数。