蓝桥杯基础练习 芯片测试（Java）---东北 墙

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基础练习 芯片测试

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资源限制
时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB
问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

分析：
根据题意，好芯片比坏芯片多，则
（1）每行若0的数量多于1的数量，则该芯片一定是坏芯片。
（2）每列若0的数量多于1的数量，则该芯片一定是坏芯片。
（3）综合可知，要满足好芯片，则该行1的数量应大于零且该列1的数量也大于0，此时输出该行的值既芯片的编号。

import java.util.Scanner;

public class 芯片测试 {
	static int a;

	public static void main(String[] args) {
		Scanner scan = new Scanner(System.in);
		a = scan.nextInt();
		int[][] arr = new int[a][a];
		for (int i = 0; i < a; i++) {
			for (int j = 0; j < a; j++) {
				arr[i][j] = scan.nextInt();
			}
		}
		panduan(arr);

	}

	public static void panduan(int[][] brr) {
		int crr[] = new int[a];
		int count0, count1, cou0, cou1;
		;
		for (int i = 0; i < a; i++) {
			count1 = 0;//记录每行出现1的次数
			count0 = 0;
			cou0 = 0;//记录每列出现0的此时
			cou1 = 0;
			for (int j = 0; j < a; j++) {

				if (brr[i][j] == 0) {
					count0++;
				} else {
					count1++;
				}
				if (brr[j][i] == 0) {
					cou0++;
				} else {
					cou1++;
				}
			}
			if (count0 < count1 && cou0 < cou1) {
				System.out.print(i + 1 + " ");

			} else {
				continue;
			}
		}
	}
}

一个在摸索中的小白，写博客也记个笔记，
要是一不小心帮到你，是我的荣幸啦~ 若有错误还请多多指正哦❤