sharpness 测试

本文详细介绍了sharpness的测试方法,包括斜边、Log f-Contrast、西门子星图、Dead Leaves和wedge楔形图。斜边测试因其高空间利用率和自动计算能力被广泛应用,但对锐化过强的系统评估可能偏乐观。Log f-Contrast测试对噪声敏感,能体现锐化和降噪效果。西门子星图适合展示不同方向的MTF信息,而Dead Leaves则用于测量实际场景的纹理锐化。wedge测试用于观察空间频率,对噪声和锐化都较为敏感。
摘要由CSDN通过智能技术生成

测试sharpness 测试图卡

Slanted-edge(SFR SFRplus eSFRISO SFRreg Checkerboard)
Log frequency Log f-Contrast
Siemens star
Dead Leaves(Spilled Coins) Random (scale-invariant)
Wedge

斜边

优点
1,空间利用率高(相对其他测试chart而言,只需要一个斜边(5,5.7 角度不固定,避免垂直,水平,45就行))
2,可以自动计算,计算速度快(chart上有定位点,软件可以自动出结果)
3,对噪声不敏感(超采样)
4,符合iso12233标准

不足
1,对于锐化很强的系统,给的结果相对乐观。(对比度大于10:1)
2,对于超过奈奎斯特频路的区域,给出的结果不一致。(尤其是roi较小时)

sensitivity
对锐化比较敏感,对降噪算法不敏感。

其他
1,lens和camera测试MTF的主要量测方法。
2,对比度(ISO12233:

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