本文是基于SEMI的G85文件(文件格式类型为XML),和Python的Tkinter和Canvas模块实现PCB/SUB(芯片基板)类型的产品的检测缺陷的Map分布展示,第一部分主要对程序的页面进行展示
1、Lot_Map叠合的页面
主要分为两个页面图,通过点击获取文件按钮(获取的文件格式为固定的G85文件,示例如图2),获取指定格式路径下的文件后,左边页面:点击获取MergeMap明细,可获取到所有文件名称,选择对应的文件名称,可将该G85文件展示如左边的阵列Map图,用于显示产品的缺陷分布;右边页面:通过点击叠合LotMap图按钮,可将获取到的所有的G85文件进行叠合起来,如果同一个位置有多个缺陷,程序将会对数量进行加和,并将数量显示到对应的位置上,用于分析整个批次板件的缺陷热点分布;
实现的核心代码段如下:
# 通过获取点击tk中listbox中的文件名称,展示对应文件的map图;
def getlisboxvalue(event):
var1.set(list1.get(list1.curselection())) # 获取list中文件名称
# 以下三行代码是避免切换文件时还是原来的数据,以及清除canvas画布;
getunitlist(filepath=entry1.get() + "/%s" % str(lable15.cget("text")) + ".xml").clear()
getclorelist(filepath=entry1.get() + &