XRD测试的68个问题(四)

本文介绍了XRD测试的注意事项,包括强度要求、衍射峰分辨、扫描范围等。针对Rietveld分析,提出了步长要求,并讨论了衍射峰强度与仪器的关系。此外,还涉及了晶胞参数计算、空间群确定、结构精修以及温度因子对结构的影响,为XRD数据分析提供了指导。

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01.用 XRD 图来精修出分子结构研究分子的性质, 收集 XRD 时应注意些什么?

  • 强度要高,中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上;
  • 衍射峰的分辨要尽可能的好;
  • 扫描范围要大,最大 d 值的峰不能缺失。

衍射峰的强度和很多因素有关,比如样品的衍射能力,性质,还有仪器功率,测试方法,检测器的灵敏度等等。

02.做 XRD 时步长一般为 0.02 度,但是如果要做 Rietveld 分析,出了强度要求 500 以上,步长有没有什么要求啊?

一个半峰宽内有 3-5个点就可以了,步长一般为 FWHM 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在10000-20000之间。

03.如果用普通的xrd仪器如 brucker D8 或者 philips 等测试粉末的 xrd,扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析,需要加内标吗?

扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的,如果要做结构精修,中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上,至于内标是不需要的。

04.衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系,因为以前用 Rigaku 的 Dmax,每次都是几千,但现在用 Bruker 或者 Philips,好像每次都在一千以下,不知道是什么问题。粉末的结晶肯定是好的。

与发生器的功率有关。你曾使用的 Rigaku 的 Dmax 是高功率的转靶衍射仪吧?强度也和衍射仪的扫描半径有关。

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