基于FPGA的等精度多功能测频仪( 四)相位差测量——完

功能描述

输入两个频率占空比相同的信号,测量他们的相位差


实现原理

如图所示,只需将两个信号异或,再将高电平时间计算出来即为时间差


仿真:

高电平时间100-000ns,high_cnt = 500,500 x 20(ns)=100000(ns)符合预期

 

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基于FPGA的高精度基频测量方法主要包括以下几个步骤: 1. 信号输入:将待测信号输入FPGA芯片进行采样和处理。可以通过信号源或传感器将待测信号输入到FPGA的输入端口。 2. 时钟同步:在FPGA内部,需要使用高精度的时钟信号进行时钟同步,以确保测量精度。可以利用PLL(锁相环)或DDS(直接数字合成器)等方法生成并调整时钟信号。 3. 信号处理:FPGA通过对输入信号进行数字化处理,提取出待测信号的基频信息。常用的信号处理算法包括快速傅里叶变换(FFT)和相关法等,以计算信号的频率谱。 4. 周期计数:使用计数器模块对基频信号进行周期计数,即在一个整的周期内,记录计数器计数的次数。 5. 频率计算:根据周期计数的结果以及时钟同步的信息,可以计算出基频信号的频率。频率计算可以通过简单的数学运算实现,例如使用公式F = 1 / T,其中T是周期的时间。 6. 精度优化:为提高测量精度,可以在FPGA中添加校正电路和滤波器等模块,以消除误差和杂波干扰。校正电路可以通过激励信号进行校准,而滤波器则可以滤除不需要的频率成分。 7. 结果输出:将基频测量结果输出到外部设备,如显示屏或计算机,以便用户进行查看和进一步处理。 基于FPGA的高精度基频测量方法具有快速、灵活、可定制的特点,广泛应用于电子测量、通信、自动控制等领域。

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