2021.11.25 – 测量CSE-PA load对应关系

本文探讨了CSE指标不佳的部分原因,即PA发射的杂散信号随负载位置变化显著,导致5~8dB的变化。调试流程包括网分校准、PA负载测试、S11参数测量及相位调整,以确定CSE-PA负载的对应关系。
摘要由CSDN通过智能技术生成

部分CSE指标差的原因在于PA本体发射的杂散信号比较强,且其杂散信号强度随着load位置变化比较明显,可能存在5~8db的变化。这种性能较差的PA需要带天线负载调节至合适的相位。

调试流程:

  1. 网分正常校准,补偿线损
  2. 取掉PA,PA输出端焊接cable,装好支架/中框/后盖,测试带天线负载之后的S11参数(注意开关和tuner需要打到对应天线,对应天线馈电/接地完整,测对应天线时要保证天线周围为自由空间,不要直接平放在着桌面上),保存此时的S11数据(阻抗位置+VSWR)
  3. 拿掉支架/中框/后盖,从对应天线测试座引出线接到tuner,再接到网分另一端,调节tuner使S11与第2步的图像一致                                                   
  4. 调节tuner的滑轨,记录不同几个相位的图像和对应设置值
  5. 另取一块有源主板测试信令下性能,调节tuner使得实际负载在不同几个相位进行变化,记录此时的CSE值,即可得到CSE-PA load的大致对应关系

 

 

 

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