STM32H743系列MCU，RAM自检方法

---

前言

开始记录工作和学习中遇到的问题了

工作一两年，用的最多且一直在用的也就是C了，以后会定期更新一些博客，一是记录一下遇到的问题，再一个就是记录一下当时解决问题的思路和过程，也给自己以后想不起来的时候提供一下思路👌！本篇就记录一下在新项目使用stm32时遇到的一个问题，以及后续的解决方法。

---

提示：以下是本篇文章正文内容，下面案例可供参考

一、RAM内存检测

项目中对RAM的安全性能有需求，所以在MCU上电时候需要对RAM进行上电自检，程序运行过程中也需要周期自检，这也是本篇博客的由来。

二、自检算法

（其实就是一个简单的读写测试，只不过步骤较多罢了）

三.问题描述和分析

1、问题描述

在main函数一进来，就开始调用RAM的上电自检函数，自检的大概逻辑是先将除过堆栈外的RAM清空，然后写入1，再读取上来判断，正确的话再清零。
目前遇到的问题是：一上电后，0x24000000（RAM的起始地址，附件1）后面的bss或者data段会有些许的值，待到RAM自检函数执行完毕，后续的函数调用就会跑飞，单步调试后以后发现是某些值被清空，导致进入了死循环。
使用MDK5作为开发环境，编译后生成的.map文件中对于RAM中的区域划分如下图所示：

对源码进行在线调试，上电后的RAM内存区域：

2、问题分析

这块存在一个比较肉疼的问题：上电自检不备份RAM中原始数据的话，自检完成以后内存区域中的值都会被清空，待上电自检函数执行完毕后，后续的函数中定义的全局量或者一些编译生成的text段的内容就会丢失，从而导致了后续的程序跑飞，接下来就是对RAM中原始内容的保存到局部变量（栈区），自检，然后恢复RAM内容就可以解决了。

		//备份即将自检的内存区域
		for (i = 0; i < 32; i++)
			......
		if (0 != RamSelfTestByWord((u8 *)startAddr))
			return ......;
		//恢复自检完成的内存区域
		for (i = 0; i < 32; i++)
			......

后来头铁的执行了一下这样操作，上电自检确实没毛病，但是周期自检的时候又暴雷了，由于周期自检时，需要对当前的自检地址和剩余自检区域的大小进行保存，所以对这两个量加了static关键字，没成想直接保存到了堆栈之前的data段中，周期检完一圈后直接清空了地址，恢复备份到这个地址的时候直接HardFault死循环了。后续就是查资料，固定一块地址，专门放这些不能随意变动的全局或者静态量。

3、解决步骤

MDK5中点击魔术棒，然后根据下图所示进行操作：

点开sct文件后，在里面指定一块确定没有使用到的区域，并重命名为sdram_area

在程序中，需要用到这块区域的全局或者静态量，变量后方加入该关键字，系统就可以自动分配到该地址中，不用手动进行管理，示例如下所示：

#define SDRAM_AREA_ATTRIBUTES  __attribute__ ((section("sdram_area"))) 
static u32 g_lastCheckAddr SDRAM_AREA_ATTRIBUTES  = 0x24000000 ;//固定的内存地址，用来存放不能被改变的全局变量 

---

总结

以上就是对RAM自检时遇到的一个小问题的分析和解决步骤，肯定也不可能是比较好的一种解决方案，有合适的方法，项目代码后续也会进行优化和更新的，仅供参考。