ATECLOUD是纳米软件的一种智能云测试平台,它可以通过连接和控制多种电子硬件仪器设备,包括示波器、波形发生器、数字万用表等,同时支持多种板卡(AI、DI、DO等),实现多硬件、多通道联合仿真、测试。
ATECLOUD可以快速构建测试业务的专属应用,测试流程发生变更时,只需简单拖拽即可快速响应,一台电脑多个工位可同步测试。测试数据可实时记录,测试结果可实时反馈,远程监测与控制,可在任何地点、任何时间进行测试。ATECLOUD还支持自定义报告模板,测试报告可快速导出,同时支持多角色多岗位测试管理,测试数据高度隔离。
ATECLOUD平台将多种自动化测试工具和硬件集成在一起,简化了系统配置和管理过程。通过云端部署,ATECLOUD可以轻松地适应不断变化的生产需求,提供实时数据收集和分析功能。借助大数据分析技术,ATECLOUD能够实时监控生产过程中的关键性能指标,帮助企业发现潜在问题并采取相应措施。ATECLOUD还支持在任何时间、任何地点通过移动设备进行远程测试和控制,方便用户进行实时监控和调试。
对于半导体芯片测试,ATECLOUD可以提供多种测试类型,包括功能测试、性能测试、稳定性测试等,可以满足不同用户的测试需求。此外,ATECLOUD采用了多重安全措施,如数据加密、权限管理等,确保测试数据的安全性和保密性。
ATECLOUD可以对半导体芯片进行全面、高效的测试,提供多种测试类型和灵活的测试流程,同时注重数据安全和隐私保护。