如何用ATECLOUD进行芯片各项性能指标的测试？

功能测试：主要涵盖输入测试向量和响应的一致性。功能测试可以覆盖极高比例的逻辑电路的失效模型。

Parametric测试：有DC和AC测试。DC主要是短路(short)、开路(open)、最大电流(maximmum current)、漏电流(leakage)、输出驱动电流(output drivel current)、开启电平(threshold)等测试。AC主要包括传输延时(propagation delay test)、建立和保持时间(setup & hold),速度测试(functional speed),访问时间(access time)等等。

性能测试：一般针对core/cpu/dps进行测试，包括最大工作频率、最低工作电压等性能相关的参数。这些测试结果可用于产品分类以及系统软件运行时的DVFS(Dynamic voltage and frequency scaling)具体设置。

功耗测试：包括静态/泄漏电流(SICC)、动态工作电流(DICC)以及休眠电流。

在线检测：包括直流电阻检测和直流工作电压测量。

离线检测：这种方法是在IC未焊入电路时进行的，一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值，并和完好的IC进行必较。

ATECLOUD-IC如何解决测试问题;

ATECLOUD-IC可测试产品类型

二极管、三极管、绝缘栅型场效应管、结型场效应管、单向和双向可控硅、普通和高速光耦、整流桥、共阴共阳二极管及多阵列器件等各类半导体分立器件自动化测试

ATECLOUD-IC解决测试痛点

人工手动测试，效率低，需要提高测试效率和准确性;

测试产品种类繁多，测试方法多样，客户需要灵活的解决方案，以适应未来的变化和需求;

记录测试数据量大，容易出错，需要提高测试效率和准确性;

长时间测试，工作量大，需要降低测试成本;

现有软件系统迭代繁琐且耗时，不能持续兼容新产品;

需要满足特定的测试需求，如外购配件等;

需要符合自身芯片测试方法;

需要寻找国产化替代方案。

国产化分布式架构

以构建一体化测试安全架构为基础，采用负载均衡、消息中间件、应用集群、数据库集群等技术，使系统具备稳定可靠、性能优异、安全有效、智能便捷的特点。实现整个企业测试业务的高度整合创新。

无代码开发，测试应用秒生成

平台兼容各大品牌测量仪器，封装全系列仪器指令，采用无代码编程模式，可灵活并快速组建各类测试项目，同时支持批量测试，提升300%测试效率。

大数据驱动生产力

数据洞察包含精益看板及数据诊断分析两个功能，支持多工位零散测试信息综合智能分析，可轻松自定义数据看板模型，发布至数据大屏集中管控，为企业进行精细化管理提供数据支持，助力企业用数据驱动增长。