晶圆芯片S参数自动化测试：测试系统与矢网、探针台的快速对接

　　矢量网络分析仪作为射频领域的重要测量仪器，常用来测试S参数、增益、损耗、阻抗、隔离度等指标。但对于大批量研发、生产测试的企业来说，手动测试或者半自动化测试程序复杂、效率低，无法满足大批量测试的需求。因此，网络分析仪全自动化测试逐渐成为客户首选的测试方式。

　　ATECLOUD作为一个智能自动化测试平台，从用户测试需求出发，不断迭代升级，开发出NSAT-1000测试系统，解决用户测试痛点。系统可针对射频天线、滤波器、放大器、衰减器等射频器件进行大批量测试，测试项目包括S参数、增益、损耗等指标。纳米软件致力于为企业的生产、研发测试提供一站式自动化测试解决方案。从仪器选型到系统开发、再到数据洞察、最终导出数据报告，帮助企业实现智能测试和数字化管理。

　　北京某芯片公司需要用矢量网络分析仪和探针台测试晶圆的S参数，由于一张晶圆上有一万左右的芯片，之前使用的半自动化测试系统效率低，测试速度慢，测试成本高，因此急需一个全自动化测试系统，提高测试效率。

　　在用NSAT-1000系统测试时，实现了测试系统与ACCRETECH探针台和网络分析仪之间的通讯，通过探针台获取产品状态、位置信息，配合网络分析仪完成产品测试。

　　首先，测试系统会读取探针台的状态，判断是否可以开始测试；

　　其次，在测试过程中，系统会采集网络分析仪的数据，通过系统预设的流程完成S参数自动化测试，并将测试结果回传给探针台，从而实现晶圆的批量测试，判断晶圆S参数是否达标。

　　最后，系统的数据洞察功能会对晶圆的S参数进行多图表类型的自动化分析，节省人工分析时间和成本。此外，系统也会自动生成数据报告，报告模板可根据需求自定义，满足用户对报告的需求。

　　通过NSAT-1000测试系统，矢量网络分析仪能够更加智能、高效地完成测试任务，节省用户的时间和精力。更多关于系统的详情可了解：https://www.namisoft.com/Softwarecenterdetail/375.html