晶振测试仪GDS-80系列
一、产品简介
晶振测试仪GDS-80系列是高性价比的晶振测试系统,采用网络分析技术,实现智能化测量,符合IEC-444标准。测量频率范围10KHz-200KHz,1MHz-200MHz,附USB接口进行数据通迅。
晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量,采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容,它测量精度高,速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能,负载电容在1-100P范围内任意编程设置,从满足不同负载电容的晶振测试,智能网络分析技术运算克服了市场上晶振测试设备使用实体电容法测试精度差,无法测试电参数的缺点、解除了手工校对的麻烦,让晶振测试变得更轻松。
依据标准:
SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第一部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法》;
SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数第二部分测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法》;
GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》 ;
二、主要技术指标
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中心频率范围: 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定
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扫描范围:±1000ppm(默认±400ppm)
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负载电容:1-100P 任意设定
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串联谐振频率Fs测量范围:±1000ppm(默认±400ppm) 测量精度:±5ppm
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串联谐振电阻Fr:1MHz-100MHz:1Ω-1000Ω (2±10%*R Ω)
10KHz-200KHz:10K-300K (2±10%*R KΩ) -
负载电容CL测量范围:1-200PF
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时基误差:±1ppm
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负载谐振频率FL测量精度:±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts
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配件:插件式100欧π网络测试座(标配),贴片式100欧π网络测试座(选配),插件式表晶测试座(选配),贴片式表晶测试座(选配),2520/3225/5032/7050贴片晶振适配套件(选配),通信软件(仅GDS-80P/S)。
GDS-80L GDS-80M GDS-80H GDS-80 GDS-80P GDS-80S
频率范围 20KHz-200KHz 1MHz-60MHz 60MHz-100MHz 20KHz-100MHz 20KHz-100MHz 20KHz-200MHz
测试参数 Fs
Rs
FL
RL
CL Fs
Rs
FL
RL
CL Fs
Rs
FL
RL
CL Fs
Rs
FL
RL
CL Fs
Rs
FL
RL
CL
L1
C1
Q
C0
TS
PASS/FAIL Fs
Rs
FL
RL
CL
L1
C1
Q
C0
TS
PASS/FAIL
等效电阻测试范围 10K-300K 1Ω-1000Ω 1Ω-1000Ω 1Ω-1000Ω
10K-300K 1Ω-1000Ω
10K-300K 1Ω-1000Ω
10K-300K
负载电容测试范围 1-50PF 1-50PF 1-50PF 1-50PF 1-200PF 1-200PF
标配 插件式1000KΩ表晶测试座 插件式100Ω PI网络 插件式100Ω欧PI网络 插件式100Ω欧PI网络 插件式100Ω欧PI网络 插件式100Ω欧PI网络
选配 贴片式1000KΩ表晶测试座
贴片适配槽
校准件 贴片式100Ω PI网络
贴片适配槽
校准件 贴片式100Ω PI网络
贴片适配槽
校准件 贴片式100Ω PI网络
插件式1000KΩ表晶测试座
贴片式1000KΩ表晶测试座
插件式陶瓷晶振测试座
贴片适配槽
校准件 贴片式100Ω PI网络
插件式1000KΩ表晶测试座
贴片式1000KΩ表晶测试座
插件式陶瓷晶振测试座
贴片适配槽
校准件 贴片式100Ω PI网络
插件式1000KΩ表晶测试座
贴片式1000KΩ表晶测试座
插件式陶瓷晶振测试座
贴片适配槽
校准件
是否可检陶瓷晶振 否 否 否 是 是 是
是否支持软件 否 否 否 否 是 是
测试参数说明:
①Fs:串联谐振频率
②Rs:等效电阻
③FL:负载谐振频率
④CL:负载电容
⑤RL:负载谐振电阻
⑥L1:动态电感
⑦C1:动态电容
⑧Q:品质因数
⑨C0:静电容
⑩Ts: 频率牵引力
⑪PASS/FAIL:合格不合格判断