深圳薄膜表面检测系统24h实时在线检测

深圳薄膜表面检测系统24h实时在线检测

赛默斐视研发设计的薄膜表面检测系统主要用于检测其在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、线条、褶皱等缺陷，借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统，及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息，在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时，有效的节约了生产成本、提高了产品质量。

检测对象：薄膜

检测幅宽：任意幅宽（根据生产线宽度进行定制）

检测速度：MAX：800m/min

检测精度：0.1mm*0.1mm

缺陷类型：晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷

测宽精度：产线无纵向偏移时误差≤3mm

缺陷标识：自动声光报警，同时在系统界面显示当前缺陷的具体图像及信息

历史记录：记录每一卷薄膜缺陷的总数，分布的位置、大小、面积等信息

赛默斐视研发设计的薄膜表面检测系统原理：

针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光检测方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的材料则采用反射的打光方式，即光源与相机在所要检测面的同一侧）。产线运行时，系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测，系统将相机采集到的图像通过SIMV图像分析软件进行瑕疵处理，由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异，从而使得系统能够发现瑕疵，并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

赛默斐视研发设计的薄膜表面检测系统功能：

1.操作便捷

操作简单，只需点击“开始”、“停止”即可完成所有操作。

2.稳定性高

可连续工作在极端温度和厂房环境中。

3.100%幅面表面检测

发现疵点时可根据设定发出报警,提示及时修复,避免大量缺陷产品的产生。

4.完整的表面质量信息

材料表面疵点图像由计算机进行保存,每卷产品都有完全的疵点图像/位置和数量等信息,产品幅面边缘根据需要可以进行自动贴标。

5.高精度检测

方案可100%检测出0.02 平方毫米以上的疵点缺陷,满足客户的不断提升的产品品质要求。

6.软件数据库管理功能

可以对生产的每卷材料进行精确的质量统计,详细的缺陷记录(大小和位置)和统计为生产工艺及设备状态调整提供了方便;离线分析,用于后续分切和质量管理,可有效保证产品质量。

7.定位标识功能

每生产一卷产品，系统会自动对这一卷产品的表面缺陷进行统计，同时打印出统计标签，贴在每一卷产品上，跟随产品发放下游。这样用户就可以通过每一卷产品上面的标签对产品进行评级，从而有效的用于分配不同质量要求的用途。

8.系统联动

当系统检测到疵点时进行声光报警，也可在系统中加入其他连锁I/O 输出。

9.一键导出

一键导出EXCEL缺陷明细表，便于用户做进一步的查询，分析，建档。

注：软件功能可根据用户要求实现完全定制！