基站发射杂散测试

-----本文基于TS 38.141 编写 ,由于协议内容细节非常多,我只能省略部分细节;

测试简介:

发射杂散(Transmitter spurious emissions)测试,在TS 38.141 的第6.6.5节; 是测试基站天线口在一定频率范围( 一般是9 kHz to 12.75 GHz)的无用发射信号的大小;
需要注意的的是,这些无用发射信号是指在发射工作带10M以外的信号,10M以内的无用发射信号用用OBUE要求测试。

测试目的:

基站在发射有用信号的时候,会同时产生一些无用的信号,这些无用的信号分布频率很宽,可能对基站本身或者他无线设备造成干扰,因此,需要对这些无用信号的大小做限制;

测试要求:

杂散分类

6.6.5 节中基本要求部分,主要将杂散要求分成四类;

  • 一般杂散(General BS transmitter spurious emission limits )

  • 接收机保护杂散(Protection of the BS receiver of own or different BS limits )

  • 共存杂散(BS spurious emissions limits for BS for co-existence with systems)

  • 共址杂散(BS spurious emissions basic limits for BS co-located with another BS)

注意(1)
这四种杂散要求的杂散信号的频率范围和功率大小各自不同,但是都有一点需要遵循,测试范围不包含 从 (发射band下边沿- ΔfOBUE )到(发射band上边沿+ ΔfOBUE );
这段其实巧好是6.6.4 OBUE(Operating band unwanted emissions) 测试范围内,也就是说杂散测试完全的避开OBUE的的测试范围;我想这其实是一种妥协,由于发射滤波器边沿总是有一点过渡带,导致发射带附近抑制无法做得那么好;严苛杂散要求也得在这个过度外开始;
在这里插入图片描述

注意(2)
有些人喜欢将co-located 翻译为共站,即两个基站安装在一起,和共址(共位置,共地址)是一个意思;

杂散具体要求

如下贴出四种杂散具体要求(部分,图片放不下哦):
一般杂散:
关于A 类和B 类 区别,查看 ITU-R、 SM329[5],基站不属于天文等用途,应该宣称为B类,并且满足;
在这里插入图片描述
接收机保护杂散
在这里插入图片描述

共存杂散
在这里插入图片描述
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共站杂散要求

在这里插入图片描述
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测试步骤

TS 38.141 原文:大概分为: 组网-发射功率-仪表操作 以下我们仔细说
在这里插入图片描述

测试组网

测试组网:杂散测试主要使用频谱仪:组网主要考虑如下两点
一是进入频谱仪的信号不能超 过频谱仪能承受的功率(例如RS的FSW 是30dbm)
二是杂散测试频率段的插入损耗不应过大,应保证频谱仪补偿插入损耗后的低噪低于limit 限值;

例如: BS 发射 49dBm,一般杂散测试要求 -30 dbm/1M 可以如下组网

在这里插入图片描述
不过,这样组网,测试段的插入损耗也很大,测试共站共存等底噪要求更低的就不合适了,且由于进入频谱仪的功率如果偏大(9dbm 已经很大了),容易引起频谱仪内部失真,出现无用的杂散信号,因此一般采用带通或者带阻滤波器代替衰减;将发射信号抑制得很低,测试频段插入损耗也很小;改进后组网如下:

在这里插入图片描述注意:

  • 受限于Fitter设计,途中的的Fitter 可能没有那么宽的频率范围,在高频(6GHZ)阶段,可以考虑使用 高通滤波器;低频段使用低通滤波器;
  • 如果使用发射带的带阻滤波器,由于带阻滤波器是一般都会反射功率,一般还需在带阻滤波器前一个3-6 db的衰减器,防止功率反射影响发射机;
  • 对于底噪要求特别低的时候,可能需要在滤波器之后加入底噪放,或者开启仪表的前置预放,FSW开启预放两档,可以降低底噪约20db.

发射功率:

按照协议要求,指定载波配下发射 测试模式为NR-FR1-TM 1.1. 最大功率;

仪表操作:

杂散测试仪表操作比较简单: 一般采用分段扫频法:
(1)设置 start stop 频率为 limit表中的要求,
(2)设置RBW为 limit表中要求,
(3)设置 检波器类型为 RMS(协议要求)
(4)设置合适的sweep point和 sweep point
(4)补偿外部插损
(5)调整合适的 参考电平和,内衰减器;
(6)利用Mark-Peak 功能 搜索该频段内的最大杂散点即可
如果最大杂散点的功率值都小于limit 表中的要求值,说明所有点都小于要求值
循环测试,遍历limit 表中的所有段;

相对于一段段的测试,RS的 FSW仪表提供快捷多段测试方法: 一次设置,多段一起测试,如下

在这里插入图片描述
在这里插入图片描述

杂散产生的原因:

如下所示: RRU中产生杂散的主要器件是 功放和双工器,
功放的非线性,容易谐波,互调等杂散,不过这些信号通过双工器时候被滤除,因此,双工器的带外抑制是杂散指标达成的关键,一般要求根据杂散要求来提双工器的设置指标,
同时双工器本身也会产生无源互调,因此要求双工器的互调指标也要足够好;
部分靠近发射带的杂散,由于双工器总是有过度带的,同时考验发送机DPD性能;足够好的DPD 性能可以降低双工器边沿的抑制要求;

在这里插入图片描述

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