超级会员免费看
这篇博客讨论了华为在线开发者（OD）测试中的一道题目，涉及一个不稳定的或门电路。当进行二进制或运算时，第一个输入数的两个比特位会随机交换，影响结果。文章解释了解题思路，指出不应考虑全排列，而应专注于bin2中值为0的位。作者提供了一个公式来计算影响结果的交换方案数，并给出了C语言实现的算法源码。
题目描述
某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定，具体现象为计算两个二进制数的或操作时，第一个二进制数中某两个比特位会出现交换，交换的比特位置是随机的，但只交换这两个位，其他位不变。
很明显，这个交换可能会影响最终的或结果，也可能不会有影响。
为了评估影响和定位出错的根因，工程师需要研究在各种交换的可能下，最终的或结果发生改变的情况有多少种。
输入描述
第一行有一个正整数N; 其中1≤N≤1000000。
第二行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第一个输入数，即会发生比特交换的输入数。
第三行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。
输出描述
输出只有一个整数，表示会影响或结果的交换方案个数。
用例
| 输入 | 3 010 110 |
| 输出 | 1 |
订阅专栏 解锁全文
8万+
被折叠的 条评论
为什么被折叠?
到【灌水乐园】发言
