外挂电容触摸屏总结（一）

最新推荐文章于 2023-08-03 17:32:11 发布

颖川初尘

最新推荐文章于 2023-08-03 17:32:11 发布

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分类专栏：外挂式电容触摸屏总结文章标签：单片机嵌入式硬件

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1.0：触摸屏整机图

上面图是触摸屏整机图，将整机划分为三个部分，第一部分是TP 模组；第二部分是TP与嵌入式系统的通讯方式（数据交换）；第三部分是嵌入系统的主控（包括除TP以外的其他外设）。

TP 模组

触摸IC根据实际需要搭建外围电路，驱动sensor ，检测sensor的数据是否变化，判断是否有触摸按下，然后将触摸信息通过通讯方式（常见通讯方式I2C，USB等）传输给嵌入式系统（单片机 Linux等）；除了传递触摸数据以外，触摸IC也可以直接跟主控进行信息交换，例如有的触控IC支持，主控发送命令读取触摸IC的版本信息；触摸IC的工作状态等。

通讯方式

如果用示波器或者逻辑分析仪去抓取TP与主控之间的通讯数据，我们只会看到高低电平的变化。高低电平高低与长短，代表传输的数据是1还是0。最常用的两种通讯方式是I2C与USB。

主控

对于TP来讲，主控主要是接收触摸信息与查询触控IC的状态。主控接收触摸数据软件实现有两种办法，一种是TP的触摸数据已经准备好了，触摸屏通过拉INT引脚告诉主控过来读取触摸数据，这种方式被称为中断方式（通常为I2C通讯方式）；

注：图是为LA抓取I2C数据的时序图，可以看到INT引脚先拉至低电平，主机发送命令读取数据。

另一种是轮询的方式，为了确保触摸数据没有遗漏，主控使用时间间隔（小于触摸屏上报数据的时间），读取触摸屏数据。一般这种方式是USB方式。

2.0：触摸屏&嵌入式之间的数据流向

触摸IC对触摸面板进行数据的采集，经过ADC的转换得到模拟前端数据AFE 数据（AFE Data，在奕力ILI2511里面被称为RAW Data），再直接采用某一个Frame的AFE Data或者加工后一个Frame的AFE Data 的作为Baseline（用于判断是否有触摸的基准，在奕力ILI2511里面被称为BG ）。

注：在没有触摸时，Baseline不是一成不变的，由于外界环境的变化导致到AFE的数据发生变化（例如温度的变化），Baseline也应该发生更新，否者将会影响正常触摸的判断。

用实时动态的AFE Data -Baseline Data，就可以得到触摸的数据的变化量Delta Data ，通过对delta数据加工（去除干扰啥的），判断是否有触摸按下。如果有触摸按下，IC将会计算触摸坐标，然后通过通讯方式将数据上传给主控。

3.0：触摸屏在嵌入式系统中正常工作

在触摸屏整机图中，可以看到整机处于工作环境当中。而触摸屏是整机的一部分，也就是TP也会在工作环境中，工作环境的变化也是TP在嵌入式系统中是否能够正常使用的一个重要因素。TP在嵌入式系统能够正常工作时多个条件的正常，任何一个条件出现异常都会导致TP使用异常。

TP模组正常

硬件：触摸IC，外围电路， IC与sensor的绑定， sensor（图案，盖板的厚度，堆叠的厚度）通讯接口的正常。

软件：通道配置正常，AFE Data正常，baseline Data正常，Delta Data（AFE-Baseline）正常,Touch sensitivity（Touch -level，灵敏度）正常

主控正常

与触摸屏通讯接口（有驱动的支持，可以识别TP上传的数据），整机的各部件没有对触摸屏有影响（LCM，电源，天线等）

整机正常

在整机组装时，TP可能有被机壳或者其他的部件接触，碰撞导致TP的异常。

工作环境正常

工作环境是整机所处的环境，通常是指温度，湿度，以及电磁环境。为了测定整机的工作环境适应能力，通常将整机放在特定的环境中测试。

温度湿度通常在恒温恒湿试验箱做实验。而电磁环境通常在实验室测试进行CS(Conducted Susceptibility)/传导抗扰测试，EFT/Burst(Electrical fast transient)/快速瞬时脉冲抗扰测试，ESD(Electrostatic discharge)/静电抗扰测试。