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RSS订阅原创 tessent IST
在 Tessent Shell 环境中，您可以使用 Tessent MissionMode 生成一个控制器，使您能够在系统内测试 (IST) 环境以及制造测试环境中控制和运行 BIST 测试（例如 LogicBIST 和 MemoryBIST）。其应用包括汽车和其他对安全要求极高的行业。提示：以下是本篇文章正文内容，下面案例可供参考提示：这里对文章进行总结：例如：以上就是今天要讲的内容，本文仅仅简单介绍了pandas的使用，而pandas提供了大量能使我们快速便捷地处理数据的函数和方法。
2023-10-26 17:17:47
211
转载 [转] DFT--Design For Test
转载自：https://www.jianshu.com/p/737dd92fe81d一、DFT概念：可测试性设计**狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。**广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。二、DFT存在的意义筛选出出错的芯片：open/break定位错误位置 提高工艺，提高良率。故：不能实现质量的100%。三、功能性测试 pk
2021-09-03 15:21:25
1438
1402072937.zip
CTL for Test Information of Digital ICS
CTL (proposed standard as IEEE 1450.6, Core Test Language) is a language
that has many possible applications in the area of test. The language reuses
syntax defined by IEEE 1450 and IEEE 1450.1 and was created primarily for
the proposed IEEE 1500 standard. As it can be seen, CTL is a language with
a conglomeration of concepts that is spread thin across multiple documents.
As a result I saw a need to put the basic concepts of CTL in a single location
2021-10-29
空空如也
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