BUG介绍
做测试的应该都知道,概念问题可以自行百度,这边写一下BUG模板,BUG分析。
BUG周期:
新—>接受/处理—>已解决—>已拒绝—>重新打开—>已解决—>已关闭
BUG工作流:
BUG模板
BUG内容包含下面字段:
关联需求:缺陷应关联需求,从而分析需求质量.
模块 :系统的功能模块,可分析缺陷功能模块分布集中区域,重点提升
优先级:表明缺陷解决紧急程度,分为紧急,高,中,低,要求紧急缺陷1h内解决,高4 h内解决,中低级缺陷当天解决.
严重程度:缺陷破坏及影响程度,分为:致命,严重,一般,提示,建议
致命:系统崩溃,业务核心流程阻塞,功能缺失,白屏,闪退,无响应,安全漏洞,性能瓶颈等
严重:主要功能实现与需求不符,数据流错误,程序接口错误,金额计算错误,系统卡顿,响应慢等
一般:次要功能实现与需求不符,如UI,文案,边界,格式错误等.
提示:错别字、提示信息、语法日期显示格式不正确、界面不美观、操作不方便和不习惯等诸多方面。
建议:优化建议,用户体验
处理人:定位缺陷产生方,指派对应人员,无法定位或没人认领,指派给模块负责人
缺陷类型:文档缺陷(如研发接口文档,UI原型,需求文档描述歧义),设计缺陷(需求问题,产品需求问题功能设计漏洞,考虑不全面),配置缺陷(研发服务配置,sql未执行等),界面交互缺陷(UI,文案,弹窗位置)
功能缺陷,环境问题(服务发布失败/未启动,机器down机,内存磁盘空间不足,脏数据导致,与配置问题区分开), 第三方问题(功能涉及第三方需要第三方修复),性能问题,安全问题,优化建议(测试基于用户体验,使用场景等提出的优化建议)
发现环境:缺陷在哪个环境被发现, 分为QA,PL, 生产
缺陷修复人:此缺陷最终修复人,缺陷产生方和修复人不需要对应,方便追溯. 暂不解决缺陷,最终解决人为产品.
缺陷标签:所有缺陷都应打上标签并及时更新维护. 缺陷标签包含:阻塞,修改引入,重新打开(重新打开次数需要TAPD支持),暂不解决,需求问题,非缺陷确认,冒烟bug,无,指派错误缺陷标签数据可统计, 标签支持多选.
缺陷标签释意:
阻塞:缺陷阻塞测试执行,缺陷标签标记为阻塞问题,方便分析阻塞问题对测试进度影响.
修改引入:缺陷发现为研发修复缺陷引入问题,缺陷标签标记为修改引入, 方便分析研发修复缺陷成功率指标
重新打开:缺陷关闭后,在回归或其他测试阶段发现此问题又复现,缺陷标签标记为重新打开,方便分析研发修复缺陷成功率.
暂不解决:缺陷暂时无法解决,经产品确认后,接受后期修复,作为遗留缺陷,缺陷标签标记为暂不解决. 方便统计遗留缺陷,定期汇总解决.
需求问题:测试可在需求宣讲及测试过程中,记录产品需求问题. 与缺陷类型-设计缺陷对应, 方便统计需求占比指标.
非缺陷确认:经研发或产品确认是测试理解或用例错误,研发拒绝修改,缺陷状态为拒绝,则为无效bug,测试需关注无效缺陷指标.
冒烟bug: 执行冒烟用例时发现冒烟bug,缺陷标记为冒烟bug, 方便分析各缺陷阶段占比指标.
指派错误:测试未经问题定位区分前后端缺陷,前端问题提到后端,后端问题提到前端,研发可标记指派错误,测试需关注指派错误指标.
功能遗漏:测试过程中,研发对需求功能实现有遗漏,测试对缺陷标记为功能遗漏,此缺陷非常严重对项目风险及进度影响很大.
低级bug: 保留此字段,根据低级缺陷规范,统计研发质量分,减少低级缺陷产生. 低级缺陷定义待输出.
无:不归为以上类型缺陷,统一按无标签处理.
缺陷产生方:缺陷产生方分为:安卓,ios,小程序,PC,服务端,关联业务,第三方,产品,UI,细化缺陷分布区域,促进相关团队提升.
发现阶段:缺陷阶段分为:冒烟阶段,测试阶段,回归阶段. 根据各阶段分析缺陷产出趋势.评估测试执行及项目风险.
关联用例:是/否,衡量用例质量,缺陷是否通过用例发现,测试需关注用例探测率指标:如测试过程共发现100个缺陷,通过用例发现60个,用例探测率则为60%.
缺陷修复时长:从提BUG时间到BUG解决时间。
测试缺陷验证时长:状态变更时间,从已解决到BUG关闭持续时间。
重新打开次数:分析BUG修改难易程度,客观反应研发修复BUG成功率。
BUG数据指标:
研发缺陷修复成功率:
目的:提升研发缺陷修复成功率,降低质量风险及反向提升测试效率.
TAPD录入研发有效缺陷总数
TAPD根据缺陷标签,筛选 重新打开,修改引入bug 数量
研发缺陷修复成功率:
(研发有效缺陷总数-修改引入-重新打开) / 研发有限缺陷总数
缺陷处理时长:
目的: 分析提升研发测试处理缺陷时效性, 针对性考核项目成员
缺陷状态从新->待验证时间,统计研发缺陷修复时长
测试处理缺陷时长:
缺陷状态从待验证->关闭时间, 统计测试缺陷关闭时长
产品缺陷占比:
目的: 帮助产品分析需求质量, 细化产品问题,针对性提升.
缺陷标签标记产品问题, 统计整个迭代产品问题占总缺陷比例
产品缺陷/ 总有效缺陷数
研发低级bug占比:
目的: 帮助研发提升自测质量, 减少对测试效率影响,
按照低级bug规范, 经研发确认,缺陷标记为低级bug
低级bug数量 / 研发有效缺陷总数
生产回归缺陷占比:
目的: 分析测试质量, 用例执行情况
PL+Online缺陷数/QA环境缺陷数
QA回归阶段缺陷占比:
目的:降低回归阶段发现bug
缺陷发现阶段为回归阶段,统计的bug数
回归阶段发现bug数 / QA总bug数
阻塞缺陷占比:
阻塞缺陷数/研发有效bug数
漏测率:
个人线上bug数/线下个人有效bug数
无效缺陷占比:
目的:考核测试提交缺陷质量
缺陷标签为非缺陷确认
非缺陷确认bug数 /缺陷总数
用例缺陷探测率:
目的:简单直观评估用例质量
关联缺陷用例数 / 缺陷总数
指派错误占比:
目的:缺陷增加指派错误标签,研发对测试指派错误端口缺陷进行标记,统计指派错误占比. 提升测试缺陷定位能力
缺陷被标记为指派错误/ 有效缺陷总数.
团队生产故障率:
目的:分析整个测试,研发,产品产生故障, 推动整体生产故障率降低.
线上故障数/线下故障
指派错误占比:
目的:衡量测试缺陷定位能力,及测试缺陷产出质量
缺陷标签标记为指派错误/ 个人缺陷总数