- 博客(3)
- 收藏
- 关注
RSS订阅原创 芯片测试流程术语
CP测试，英文全称Circuit Probing、Chip Probing，也称为晶圆测试，测试对象是针对整片wafer中的每一个Die，目的是确保整片wafer中的每一个Die都能基本满足器件的特征或者设计规格书，通常包括电压、电流、时序和功能的验证。还有一种就是为了控制成本，因为ATE的测试成本比较高，SLT的测试布局图大概是这样，把芯片放在测试板上，测试板可以用于验证芯片的各个功能。测试对象是针对封装好的chip，CP测试之后会进行封装，封装之后进行FT测试。可以用来检测封装厂的工艺水平。
2023-10-13 13:33:25
307
原创 python报错----ValueError: setting an array element with a sequence
如果程序在其他终端上可以跑通，并且数组逻辑没有问题的话，很可能是numpy包版本的问题，在anoconda中把版本从1.24改成了1.21，点击numpy包，找到 mark for specific installation version, 问题就解决了。
2023-07-10 16:56:29
72
1
原创 python-调试工具vscode+anaconda
2. 使用anaconda, 根据程序新建（creat）虚拟环境，在虚拟环境下安装相关包，在vscode中选择ctrl+shift+p, 选择python-select-interpreter, 选择自己新建的anaconda中的虚拟环境即可。在开始中搜索cmd, 进入命令行，然后cd ..一直退到主目录，找到python存储位置，cd (具体位置)1.在终端使用pip install安装（可能会产生pip需要升级等问题）一. 使用vscode调试。二. 使用命令行调试。
2023-07-10 16:29:58
185
1
空空如也
空空如也
TA创建的收藏夹 TA关注的收藏夹
TA关注的人