图像上采样：双线性插值，Deconv，Spatial transform

一.图像下采样的方法

• 双线性插值
• Deconv，反卷积
• Spatial transform

二.具体细节

1. 双线性插值

• 首先根据以下式子来计算目标像素在源图像中的位置，一般srcX和srcY是浮点数。比如f(1.2,3.4)这个像素点是虚拟存在的。

  1. 按比例对应
  srcX = dstX * (srcWidth/dstWidth)
  srcY = dstY * (srcHeight/dstHeight)
  
  2. 按比例对应最后一列无法参与计算，所以按几何中心对应
  用这个！！
  SrcX+0.5 = (dstX+0.5) * (srcWidth/dstWidth)
  SrcY+0.5 = (dstY+0.5) * (srcHeight/dstHeight)

• 然后根据(srcX,srcY)周围的4个实际存在的像素点.

  （1，3） （2，3）
  （1，4） （2，4）

• 写成f(i+u, j+v)形式，则u=0.2, v=0.4, i=1, j=3