国产FPGA 高云 GOWIN FPGA 遇到的VLD POR ERR奇葩现象和问题

文章描述了一位技术人员在使用高云FPGA芯片GW1N-LV1QN48C6I5时遇到的异常情况,主要问题是下载到SRAM或EFLASH时出现POR和VLD报错,但能正常读取芯片ID。问题根源在于电源的上电时序不满足芯片要求,超过200us可能导致无法启动和烧录。解决方案是遵循高云手册的电源时序指导。
摘要由CSDN通过智能技术生成

这次遇到的奇葩问题是高云的FPGA,芯片的型号是GW1N-LV1QN48C6I5。

具体遇到的问题是  用下载器读取芯片ID 功能时一切正常 如图。

       当要下载到芯片(SRAM 或者EFLASH(内部flash))时就报错,而报错的原因主要是两个

一个是POR报错  一个是VLD报错  如下图

       而读取芯片ID是完全正常的 ,这说明芯片至少在JTAG口这块是正常的 。但虽然芯片id是正确的 ,但staus code是错误的 。 

       我一度怀疑是某个电源IO没有焊接好  且重新焊接后 芯片温度较高时  有一定的概率芯片能够成功烧录(无论是SRAM还是FLash)  于是焊接了在焊接(我也感叹高云的fpga真耐干  )被我焊接了至少10回  拿下重新上锡了5回。

     最后结论  后来我问了高云的技术咨询。得知此款芯片对电源的上电时序有较高要求。具体要求请参见高云手册。如果你的电源VCCIO和VCCINT(内核 此款芯片没有VCCX辅助电源IO)上电时序在200us以内是没有时序要求的,如果超过此范围最好是按照手册给定的范围操作。否则容易造成芯片不能启动而无出现无法烧录但能读取ID的情况。

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