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RSS订阅原创 芯片测试（一）O/S测试
原理相同，但有些测试机的DPS(Device Power Supply)资源不支持加流测压的功能，可以视情况改用加压测压（小电流挡位，一般低于1mA）或加压测流（小电流挡位）的方式进行测试，同时需要注意电源Pin是否加了滤波电容，防止因电流过小电容未充满电，O/S即OpenShort的缩写，即开路、短路，一般放在芯片测试的第一道，是后续测试的基础，测试首先是要将测试环境与DUT(Device Under Test)建立起良好的电气连接。图1 DUTPin 灌/拉电流示意图。
2023-06-15 10:21:11
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空空如也
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