芯片测试（一）O/S测试

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O/S即OpenShort的缩写，即开路、短路，一般放在芯片测试的第一道，是后续测试的基础，测试首先是要将测试环境与DUT(Device Under Test)建立起良好的电气连接。

1、对于IOPins：

OS测试原理是基于IO pins对电源端和对地的反向保护二极管压降，这个电压主要跟晶圆材料相关，一般都是硅材质，导通压差在0.4v~0.7v。

我们一般会采用加流测压的方式，如图1，当小电流(通常为100uA)从测试机灌入/拉出DUT IO时，对电源/地端的保护二极管导通

图1 DUTPin 灌/拉电流示意图 

我们将其它所有IO包括电源GND都通过测试机置0，假设没有OS情况发生，该IOpin的电压就会抬升/降低到二极管导通电压；

2、对于电源Pins：

原理相同，但有些测试机的DPS(Device Power Supply)资源不支持加流测压的功能，可以视情况改用加压测压（小电流挡位，一般低于1mA）或加压测流（小电流挡位）的方式进行测试，同时需要注意电源Pin是否加了滤波电容，防止因电流过小电容未充满电，导致假pass；