蓝桥杯3月7日练题

试题 基础练习 Sine之舞

问题描述

最近FJ为他的奶牛们开设了数学分析课，FJ知道若要学好这门课，必须有一个好的三角函数基本功。所以他准备和奶牛们做一个“Sine之舞”的游戏，寓教于乐，提高奶牛们的计算能力。
　　不妨设
　　An=sin(1–sin(2+sin(3–sin(4+…sin(n))…)
　　Sn=(…(A1+n)A2+n-1)A3+…+2)An+1
　　FJ想让奶牛们计算Sn的值，请你帮助FJ打印出Sn的完整表达式，以方便奶牛们做题。

输入格式

仅有一个数：N<201。

输出格式

请输出相应的表达式Sn，以一个换行符结束。输出中不得含有多余的空格或换行、回车符。

样例输入

3

样例输出

((sin(1)+3)sin(1–sin(2))+2)sin(1–sin(2+sin(3)))+1

**思路：**分别构造An和Sn函数，An采用递归思想构建，找出其中的规律。Sn采用循环，注意括号匹配

import java.util.Scanner;

public class Main {
    static Scanner scanner=new Scanner(System.in);
    static int N;
    static String anString;
    static String An(int n,String s,int i) {  //递归解决An
        if(i==n) {
            return s;
        }
        s=s+"sin(" + (i+1);
        if(i+1!=n) {
            if(i%2==1) {
                s+="+";
            }else {
                s+="-";
            }
        }else {
            s+=")";
        }
        return An(n,s,++i);
    }
    static void Sn(int n) {   //循环解决Sn
        int i,j,k;
        if(n==0) {
            return ;
        }
        for(k=1;k<n;k++) {  //打印前半部分括号
            System.out.print("(");
        }
        k=1;
        i=1;
        while((n)!=0) {
            System.out.print(An(k, "", 0));
            for(j=1;j<i;j++) {
                System.out.print(")"); 
            }
            System.out.print("+"+n);
            if(n!=1) {
                System.out.print(")");
            }
            k++;
            i++;
            n--;
        }

    }
    public static void main(String[] args) {
        N=scanner.nextInt();
        Sn(N);
    }
}

试题 基础练习 芯片测试

问题描述

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

**思路：**关键的解题核心，只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数 就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢？因为题目中说了， 其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0，所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言， 用坏的去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%， 而如果还有一个好的芯片（检测方）也去判断这个好的芯片（被检测）， 这个结果一定是1，所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数

代码：

import java.util.Scanner;

public class 基础练习_芯片测试 {
	static Scanner scanner=new Scanner(System.in);
	static int[][] map=new int[30][30];
	static int[] count=new int[30];
	static int N;
	public static void main(String[] args) {
		N=scanner.nextInt();
		for(int i=0;i<N;i++) {
			for(int j=0;j<N;j++) {
				map[i][j]=scanner.nextInt();
			}
		}
		for(int i=0;i<N;i++) {
			for(int j=0;j<N;j++) {
				if(i!=j&&map[i][j]==1) {  // 好的测试好的一定是好的,坏的测试好的有百分之50的概率是好的
					count[j]++;
				}
			}
		}
		for(int i=0;i<N;i++) {
			if(count[i]>=N/2) {
				System.out.print(i+1) + " ");
			}
		}
	}
}

**参考学习：**https://blog.csdn.net/huantingyizhan/article/details/104212143