第五章：半导体测试实战解析——运算放大器（Op-Amp）关键参数测试案例

5.1 为什么选择运算放大器？

运算放大器（Op-Amp）是模拟电路的核心元件，广泛应用于信号放大、滤波、比较等场景。其关键参数（如输入失调电压、共模抑制比、输出摆幅）直接影响系统性能。通过测试Op-Amp的直流（DC）参数，可以深入理解半导体测试的核心方法，并融合模电与数电知识。

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5.2 测试目标与电路设计

测试目标

• 输入失调电压（Vos）：输入为0时，输出端的电压偏移量。

• 共模抑制比（CMRR）：抑制共模信号的能力。

• 输出摆幅（VOH/VOL）：输出端能达到的最高/最低电压。

测试电路设计

• 电路结构：

  • 差分输入：Vin+与Vin-通过精密电阻网络连接。

  • 反馈网络：R1=1kΩ，R2=10kΩ（闭环增益为10）。

  • 电源配置：VDD=+5V，VSS=-5V。

• 测试设备：

  • PMU：测量输入失调电压与输出摆幅。

  • 信号发生器：生成共模信号。

  • 示波器：监测动态响应。

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5.3 测试步骤与原理分析

步骤1：输入失调电压（Vos）测试

1. 短路输入：将Vin+与Vin-短接至地。

2. PMU测量：读取输出端电压Vout，计算Vos=Vout/闭环增益（10）。

模电知识应用：

• 差分放大器原理：Vos由内部晶体管的不匹配引起。

• 反馈网络作用：闭环配置稳定增益，降低测试误差。

步骤2：共模抑制比（CMRR）测试

1. 输入共模信号：Vin+与Vin-同时施加1V正弦波（频率1kHz）。

2. 测量输出幅度：若输出幅度为ΔV，则CMRR=20×log(ΔV/1V)。

数电知识应用：

• 逻辑分析：CMRR需满足规格（如80dB），否则可能因电源噪声或布局问题失效。

步骤3：输出摆幅（VOH/VOL）测试

1. 驱动负载：输出端连接1kΩ电阻模拟负载。

2. PMU驱动：

   • VOH测试：输入正向饱和信号，测量输出最大值。

   • VOL测试：输入负向饱和信号，测量输出最小值。

模电与数电交叉应用：

• 输出级结构：推挽输出级的导通电阻影响摆幅（数电逻辑电平概念）。

• 欧姆定律：VOH=VDD - IOH×R_on（PMOS导通电阻）。

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5.4 测试数据与故障排查

常见问题与解决：

• Vos超标：可能是输入级晶体管匹配不良，需优化工艺。

• CMRR不足：检查电源滤波电容或PCB布局的对称性。

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5.5 模电与数电知识点总结

知识领域	具体内容	应用场景
模拟电路	- 差分放大原理 - 反馈网络设计 - 共模信号抑制	Vos与CMRR测试
数字电路	- 逻辑电平定义（VOH/VOL） - 驱动能力（IOH/IOL）	输出摆幅测试
测试技术	- 开尔文四线法（消除线阻影响） - PMU量程与钳制设置	精密电压/电流测量

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本章总结

通过运算放大器测试案例，初学者可掌握：

1. 跨学科融合：模电（晶体管匹配、反馈）与数电（逻辑电平、驱动）的综合应用。

2. 测试流程设计：从参数定义到故障排查的系统性思维。

3. 工具联动：PMU、示波器与自动化脚本的高效协作19。

动手实验建议：

• 在Multisim中搭建Op-Amp测试电路，模拟PMU测量流程。

• 尝试修改反馈电阻（R1/R2），观察增益对测试结果的影响。

讨论话题：
如果CMRR测试中输出出现高频振荡，可能是什么原因？如何通过调整电路消除？欢迎分享你的解决方案！ 💡

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参考资料：本章内容综合自《The Fundamentals Of Digital Semiconductor Testing》第5章