芯片测试题
问题描述:有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式:输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式:按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入:3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出:1 3
这道题实际所用方法比较简单----数组记录状态信息。但是在求解时,对于题目所给信息的转化能力比较重要。
1、题目上说:有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。那么,最极端的情况也就是,有11块芯片,则,排除用于被检测的芯片(假设是好的芯片)外,剩下的用于检查的芯片中,5快好的芯片,5块坏的芯片。
2、i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。那么,本身检查本身的这种情况,所得的值不应该被记录(因为没有参考价值)
3、用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。那么,接着叙述上边提到的极端情况,10块用于检查的芯片中,5块 好芯片如实地反映了被检查芯片是好芯片,另5块不好的芯片很遗憾的给的随机值都是0(显示该被检查芯片是坏的),那么,这个时候就要说明被检查的结果是:出现好的情况,与出现坏的情况次数相同,所以应该如下处理:
i=0;
for(j=1;j<=n;j++)
{
if(b[j][1]>=b[j][2])//某个零件的被测试结果显示好的情况比坏的情况多,或者相等
//取最极端的例子来说明即可
printf("%d ",j);
具体实现代码如下:
//算法基础----用数组元素记录信息
//认真看好所有题目,不要慌才是真的
//把题目中的有用信息,即时转化为编程语言
//实现信息的最佳利用
#include<stdio.h>
int main()
{
int a[20][20];
int b[20][3]={0};
int n;
int i,j;
scanf("%d",&n);
for(i=1;i<=n;i++)//输入的时一个n*n数组
{
for(j=1;j<=n;j++)
scanf("%d",&a[i][j]);
}
//开始对输入的芯片状态进行处理
for(j=1;j<=n;j++)
{
for(i=1;i<=n;i++)//i表示主动测的芯片,j表示被测的芯片,j不变,i变换
{
if(i!=j)//不是本身测本身de无效数据
{
if(a[i][j]==1)//用b[i]中的:1记录好的个数,2记录不好的个数
b[j][1]++;
if(a[i][j]==0)
b[j][2]++;
}
}
}
//判断是好芯片,还是坏芯片
i=0;
for(j=1;j<=n;j++)
{
if(b[j][1]>=b[j][2])//某个零件的被测试结果显示好的情况比坏的情况多,或者相等
//取最极端的例子来说明即可
printf("%d ",j);
}
return 0;
}
备注:写代码的时候一定要保持自己的头脑清醒啊,不然会发现自己一直在莫名的绕来绕去。然后,等自己清醒的时候,发现自己写的是啥???